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1.
用正电子湮没寿命谱和多普勒展宽方法研究高能电子(12MeV)辐照聚丙烯和聚乙烯的不同特性,发现在160kGy剂量内,正电子在聚丙烯内的短寿命成分随着电子辐照剂量的增大而变长,中间成分的强度则减弱,但当剂量为320kGy时,各湮没寿命与没有辐照的样品类似。而长寿命成分的强度不随剂量增加而变化。在电子辐照的聚乙烯薄膜中,当剂量为80kGy时,正电子中间寿命强度I2增加,长寿命成分的强度I5则有所减少。之后,随着电子辐照剂量的增加,则不再变化。正电子湮没γ射线多普勒展宽S参数随电子辐照聚乙烯的剂量变化与I5相同。正电子湮没特性的差别表明高能电子辐照这两种聚合物所引起结构上的变化是不同的,并为其宏观特性(如力学性质变化)的改变提供了微观依据。  相似文献   
2.
利用计算机程序拟合数据采集系统获取的数据,改变拟合参数,找出最佳拟合值,从而标定该数据采集系统,所得标定值的系统误差最小。  相似文献   
3.
吴奕初  滕敏康 《核技术》1994,17(12):714-717
从正电子陷阱物理图象出发,引入正电子在陷阱中湮没的竞争机制,提出了一个新的陷阱湮没模型,并采用此模型分析了高温超导材料中正电子在陷阱中湮没的特征。  相似文献   
4.
铌酸钾(简称KN)晶体是一种优良的非线性光学材料。它不仅在激光技术应用上有广阔的前景,而且对晶体缺陷、结构相变等基础理论研究亦可提供丰富的信息。 制得的KN晶体常会呈现不同的颜色,认为这种颜色是色心引起的,建议用退火方法消除之。现在缺少一种简便的测量KN晶体色心浓度的方法。我们用正电子湮没方法测量了:①无色、淡蓝、蓝色(化学成份相同)三种KN晶体的寿命谱;②同一块KN晶体退火(1000℃,10小时)前、后的正电子湮没谱。③同一块KN晶体辐照前、后的正电子湮没谱(辐照处理条件是,X光管电流200mA,功率12kW,辐照时间80min),测量结果如下。  相似文献   
5.
报道用穆斯堡尔谱学和X射线衍射研究YBa_2(Cu_(1-x)Fe_x)_3O_7的结构和超导性质以及铁置换的影响;用正电子湮没技术研究Y-Ba-Cu-O高T_c超导体,发现T_c区域正电子湮没寿命谱性质异常;用质子和电子束分别对Y-Ba-Cu-O超导体的体材和不同衬底的超导薄膜进行辐照试验,获得了一些新的结果。  相似文献   
6.
本文介绍的正电子湮没寿命谱和正电子湮没多普勒展宽谱的数据自动获取和处理技术使Can-berra S-40或S-35型多道分析器与IBM-PC/XT微型计算机之间实现了相互通讯及全套的解谱数据处理和原始数据存盘、计算结果存盘及列表绘图等自动获取和处理数据的工作。使IBM-PC/XT微型计算机用于正电子湮没寿命谱仪或多普勒展宽谱仪的在线处理工作得以实现。  相似文献   
7.
用正电子湮没技术,研究了半绝缘(SI)和掺Te的n型GaAs的退火行为及外延工艺的影响.结果表明,GaAs的平均寿命τ_M,长寿命τ_2,和基块寿命τ_b依赖于掺杂,同时τ_2的变化与镓空位和多镓空位均有关.外延后,由于退火的效果,I_2的降低和τ_2的增加是明显的.文中还讨论了电子和中子辐照的影响.  相似文献   
8.
要使一个测量系统能正常、可靠地使用,首先必须对它进行调试,然后标定。反映系统性能参数的一种标定方法是直接测量被标定量。由于标定使用的仪器本身存在一定误差以及其他一些因素,这会给被标定系统引入系统误差。另外,这样标定出的系统参数又缺乏一些具体明确的标准来衡量其优劣,可见这种标定方法有明显的不足。  相似文献   
9.
硅橡胶是一种特种橡胶材料,用途十分广泛。我们用正电子湮没寿命谱方法对硅橡胶材料进行了测量分析。经过分析,第一寿命τ_1看作为自由正电子湮没和p-Ps自湮没的结果;第二寿命τ_2为正电子处在生胶大分子缠绕、交叠处和高温硫化胶交联处湮没的结果,第三寿命τ_2应为样品中形成的o-Ps的Pick-off湮没的结果。正电子在硅橡胶中的寿命参数与硅橡胶的分子量、交联密度、大分子链的缠绕交叠等情况紧密相关。  相似文献   
10.
对硅酸二钙(Ca_2SiO_4简写为C_2S)掺杂,可以影响它的微观结构、多晶转变、烧成速度等。硅酸二钙是干燥的坚硬粉末,不易压制成型。我们采用垂直放置闪烁探头的测量方法,测量了β-C_2S粉末的正电子湮没寿命谱。结果表明,中间寿命τ_2(约470ps)组分,相应于正电子在钙空位处束缚态湮没。I_2随Na掺量增大而减小,随P掺量增加而增大,表明Na进入Ca位置并产生阴离子空位,P~(5+)进入Si位置并产生Ca~(2+)空位。  相似文献   
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