固化温度对环氧树脂／累托土纳米复合材料的性能及微结构的影响

利用X衍射、动态力学分析（DMA）研究了不同的固化温度对环氧树脂／累托土纳米复合结构的性能及微结构的影响。实验表明，固化温度对纳米结构的形成有重要影响，在110℃以上固化时均能生成剥离型纳米复合材料；在140℃附近固化时，材料在玻璃态的储能模量最高，玻璃化转变温度也较高，此时能得到综合性能较好的复合材料。随着固化温度的提高，材料的Tg也随之提高，较高温度（高于140℃）固化时，材料的内外结构不均匀，导致力学性能变差。     

APPLICATION OF THE POSITRON ANNIHILATION TECHNIQUE

The principles of positron annihilation and four positron experimental techniques are described. The application of positron annihilation technique in material science. atomic physics and other related fields are discussed.     

发展低碳建筑推动建筑节能

当前．气候变化已成为全球可持续发展面临的最严峻挑战之一。发展以低能耗、低污染、低排放为特点的资源节约型、环境友好型社会是实现科学发展的有效途径。我国是一个能源短缺的国家,抓好重点领域的节能减排是关键。笔者以为建筑节能就是这样一个重点领域,大力发展低碳建筑,应是当前我国推进节能减排．应对气候变化的重要举措之一。     

用正电子湮没方法鉴别InP半导体中的缺陷

本文测量了各种ＩｎＰ样品中的正电子寿命谱，用正电子湮没率连续分布测量（ＣＯＮ－ＴＩＮ分析）结合ＰＡＴＦＩＴ分析正电子寿命谱，肯定了在ｎ型和半绝缘型ＩｎＰ中有Ｉｎ空位ＶＩｎ和Ｐ空位ＶＰ，而在ｐ型ＩｎＰ中只观察到Ｉｎ空位ＶＩｎ．正电子寿命的温度关系表明所观察到的ｎ型和半绝缘型中的ＶＩｎ和ＶＰ以及ｐ型ＩｎＰ中的ＶＩｎ均为电中性．改进了常规的多普勒展宽谱仪．利用这一谱仪测量了ｎ型及半绝缘型ＩｎＰ的多普勒展宽谱，结合正电子寿命测量结果，观察到在掺Ｆｅ的半绝缘型ＩｎＰ中存在ＶＰ－Ｆｅ络合物     

用正电子湮没研究永磁合金Mn-Al-C的相变和结构缺陷

用正电子湮没技术研究了新型永磁合金Mn-Al-C在500℃和550℃下的等温转变动力学过程和温热挤压对其微观结构的影响。下图示出了在相应温度下正电子平均寿命随退火时间的变化。高温ε相和挤压样品中的正电子平均寿命分别用□和△标出。     

别让经济房成中低收入者新负担

由于购买住房而背负了沉重的债务或放弃购房。2005年12月,一个经济适用房项目曾出现这样的现象:292户幸运中号的买房者中,因价格原因有113户放弃了资格。针对这些现象,他们建议从四个方面加以解决。第一,从严审核开发成本,做好经济适用房价格和廉租房租金的制定、管理工作,同时     

AlNiCo8合金磁性能和正电子寿命关系的初步研究

AlNiCo8永磁合金是目前国内外应用较为广泛、性能优异的磁性材料,但该材料磁性能的实际值只及理论值的25％。为了对宏观磁性及微观结构有深入的了解,应用正电子湮没技术对不同热处理及磁能积的样品,测试了正电子平均寿命。     

用GDB-49型光电倍增管组装正电子寿命谱仪探头

正电子寿命谱仪是正电子湮没实验的基本装置,探头是影响谱仪时间分辨率的关键部牛之一。目前国内正在工作的二十余台寿命谱仪中,进口设备占绝大多数。故探讨用国产光电倍增管及塑料闪烁体组装性能良好的探头具有现实意义,也为自建寿命谱仪提供合用的方案。     

EFFECT OF POLYMERIZATION DEGREE ON MICROSTRUCTURE OF POLYETHYLENE GLYCOL STUDIED BY POSITRON ANNIHILATION

Positron lifetimes in polyethylene glycol (PEG) polymer have been measured as a function of polymerization degree N (N = 25 - 500). It is observed that all the positron parameters are strongly dependent on N when N≤250, and then tend to constant levels when N≥250. The variations of the longest-lived component (I3,τ3) show that the size of free- volume holes has a minimum at N - 100 and the hole concentration decreases with N. These trends may be due to the variations in crystallinity, the chain ends, entanglements and the Van der Waals interaction between segments. The variations of the second component (I2,τ2) with N reflect the changes of defect properties in crystalline regions of PEG.     

金属玻璃(Fe_(0.6)Ni_(0.4))_(82)Si_8B_(10)结构弛豫和晶化过程的正电子寿命研究

我们对金属玻璃(Fe_(0.6)Ni_(0.4))Si_8B_(10)在等温退火过程中的正电子寿命进行了测量(结果如图),退火温度为425℃。图中所示的正电子寿命值是单分量拟合的结果。为便于讨论,我们在图中还示出了同样样品的ΔS-tα曲线,ΔS是相对于Cu的热电势,X射线相分析证明了热电势显著变化的阶段与样品析出新的晶化物相对应。与热电势测量的结果相比较,整个寿命随退火时间的变化分为两大部分(以d点为界):结构弛豫部分和晶化部分。