核反应堆辐照元件的轴向和径向γ射线扫描

本文描述了用于辐照核燃料元件轴向和径向γ扫描的系统,包括扫描台架、准直装置、探测器及其电子学设备。给出了对金属铀辐照元件轴向和径向扫描的实验结果,包括:1.~(137)Cs,~(95)Zr-~(85)Nb沿元件轴向的分布;2.~(137)Cs沿元件径向的分布和热中子自屏蔽系数的测定值。     

27厘米~3Ge(Li)探测器效率曲线的刻度

本文叙述了27厘米~3Ge(Li)探测器0.08—1.6兆电子伏能区效率曲线的刻度工作。采用了~(75)Se、~(110m)Ag、~(140)Ba、~(140)La、~(155)Eu、~(169)Yb等已知分支比率的γ放射性核素刻度效率曲线相对值,而后,用~(95)Nb标准源归一为绝对值,并用~(141)Ce和~(60)Co标准源检验相对效率曲线的斜率和弯曲部分。全能区达到的精度约为5%。     

超钚元素分离流程的高灵敏度和定量流线监测方法

本文介绍用于超钚元素分离流程的高灵敏度监测装置和定量分析技术。采用NaI(Tl)薄晶体双探头相加谱仪测定X射线和低能γ射线。采用Si(Au)面垒半导体流线监测器测定厚源α谱。描述了监测器的结构和电子仪器,厚源α谱特性的研究结果和定量刻度方法。给出了用于离子交换色层法提取~(248)Am和~(244)Cm流程的实验结果。NaI(Tl)薄晶体双探头系统对~(243)Am总加入量的灵敏度好于0.1μCi。Si(Au)面垒监测器对镅、锔浓度测定精度为±5％。各收集容器内镅、锔含量分析结果的精度为±10%。     

用直接γ能谱法破坏性测定核反应堆辐照燃料燃耗

本文介绍用高分辨Ge(Li)探测器-多道计算机系统,不经化学分离而破坏性测定反应堆辐照燃料燃耗的研究结果。以~(137)Cs、~(144)Ce为燃耗监测体,采用与标准源直接比较的方法测定燃料溶解液中燃耗监测体的浓度;对ADC的分析时间和脉冲堆积引起的计数损失进行了精确的校准;比较了曲线拟合法、TPA法、峰外扣本底法、WASSON法求面积的精度。~(106)Ru、~(137)Cs、~(144)Ce放射性浓度的误差分别为±1.3％、±1.6％、±1.3％(置信度为95％),与放化分离法的偏差分别为-1.1％、 0.74％、 1.1％。根据燃料辐照历史的记录,采用辐照史校正程序精确计算了燃耗监测体的堆内衰变量、中子俘获反应的修正量和~(235)U、~(238)U、~(239)Pu、~(241)Pu的平均裂变产额。辐照史校正对由~(137)Cs、~(144)Ce获得燃耗值引入的误差分别为±0.2％和±0.3％。这两个燃耗监测体获得燃耗值的综合误差均为±2.0％。与同位素稀释质谱法测定~(148)Nd所得燃耗值的比值分别为0.98和0.99。     

超钚元素分离流程的高灵敏度和定量流线监测方法

本文介绍用于超钚元素分离流程的高灵敏度监测装置和定量分析技术。采用NaI(T1)薄晶体双探头相加谱仪测定X射线和低能γ射线。采用Si(Au)面垒半导体流线监测器测定厚源α谱。描述了监测器的结构和电子仪器,厚源α谱特性的研究结果和定量刻度方法。给出了用于离子交换色层法提取~(248)Am和~(244)Cm流程的实验结果。NaI(T1)薄晶体双探头系统对~(243)Am总加入量的灵敏度好于0.1微居。Si(Au)面垒监测器对镅、锔浓度测定精度为±5％。各收集容器内镅、锔含量分析结果的精度为±10％。     

超钚元素分离流程的高灵敏度和定量流线监测方法

本文介绍用于超钚元素分离流程的高灵敏度监测装置和定量分析技术。采用NaI(Tl)薄晶体双探头相加谱仪测定X射线和低能γ射线。采用Si(Au)面垒半导体流线监测器测定厚源α谱。描述了监测器的结构和电子仪器。对厚源α谱特性的研究结果和定量刻度方法。给出了用于离子交换色层法提取~(243)Am和~(244)Gm流程所得的实验结果。NaI(Tl)薄晶体双探头系统对~(243)Am总加入量的灵敏度好于0.1微居。Si(Au)面垒监测器对镅、锔浓度测定精度为±5%。各收集容器内镅、锔含量的精度为±10%。     

几种核物理探测器在高压离子交换分离镅、锔流程流线分析中的应用

本文介绍一种超钚元素工艺流程流线监测系统。采用了Ge(Li)γ射线探测器,(艹氐)晶体n-γ分辨快中子探测器和Nal(Tl)薄晶体低能γ射线探测器,测定取样导管(引出于工作箱外)中料液的放射性。该系统已用于高压阳离子交换分离镅、锔的热实验中,为放化操作人员提供控制流程所需参数,文中扼要描述了取样盒、屏蔽体结构,各探测器的设计与调试,电子仪器和主要实验结果;并描述了Si(Au)面垒α流线监测器的设计、调试和条件实验结果。     

用HPGe和Ge(Li)探测器测定~(238)Pu,~(239)Pu,~(240)Pu,~(241)Pu丰度和~(241)Am含量

本文介绍了用γ能谱法精确测定浅燃耗钚样品的同位素丰度和~(241)Am相对含量的方法和实验结果。在38—60 keV钚的低能γ射线和203—208 keV两个能区中获取数据。选择不同同位素能量相近的γ射线对计算同位素丰度比,并对这些γ射线对的小的能量差别进行了仔细的效率修正,~(238)Pu,~(239)Pu,~(240)Pu,~(241)Pu丰度和~(241)Am相对含量的精度分别为±4.1%,±0.04%,±0.37%。±0.45%和±0.40%。与质谱仪测得结果相比,在误差范围内相互符合。