电感耦合高频等离子炬光源测定金属钙中微量杂质元素

本文采用电感耦合高频等离子炬作光源,发射光谱测定金属钙中微量铜、铁、镍、锰、硅、钠、硼七个杂质元素。将每毫升中含有10毫克钙样品的溶液(酸度为0.8N)用气动雾化器雾化,经加热、去溶剂装置进入等离子炬。各杂质元素的测定范围为0.1—10微克/毫升。单次测量均方偏差(除钠为13%外)均在5—10%以内。方法简便、快速、稳定性较好,对一般光源中比较难测定的硅、钠等元素也获得了满意的结果。     

电感耦合高频等离子体原子发射光谱分析法(ICP-AES)测定氯化锂溶液中硅、铁、锰、镁、铜、镍、铝、钙、铬、钠十个杂质元素的含量

本文对ICP光源所用的石英炬管的尺寸,即外管的内径和载气管的孔径进行了初步的实验和讨论;针对我们的分光系统和分析对象,外管内径22mm,喷射孔径1.8—2mm比较合适。观察了一些谱线的ΔS值在ICP光源中的分布及其随载气流量变化的情况,为LiCl溶液中杂质的测定确定了ICP的工作参数。大多数元素的分析下限,对锂而言,约为ppm量级;对水,则为几十个ppb;方法无需分离,具有简便、快速、联合测定等优点;方法的标准偏差不超过10%,回收率大体为90—110%。     

电感耦合高频等离子体焰炬三维调节装置的研制

随着ICP技术的广泛应用,日益要求提高高频发生器的稳定性和完善其一系列装置。其中的一个重要装置是焰炬的调节装置。这是     

电感耦合等离子体原子发射光谱分析法(ICP-AES)测定金属钙中硅、铁、锰、铬、镁、铝、铜、镍、钠杂质元素的含量

本文叙述了一种适合于较浓溶液的进样——去溶装置,考察了ICP光源主要工作参数对谱线△s的影响,观察了ICP光源中的基体效应和共存元素的干扰,为金属钙中杂质元素的测定选择折衷工作条件。方法无需分离,简便、快速。方法的检测范围为:Mg——50—5000 ppm;Al——30—3000 ppm;Na——16—1600 ppm;Si、Fe、Cr、Ni——10—1000 ppm;Cu、Mn——3—300 pPm,方法的标准偏差为4—10%,回收率为92—104%。