高压放电环境中X线照射量的水平

用热释光剂量测量方法(TLD)对我国高压放电环境进行了抽样监测。监测结果表明:高压放电时,确有低能X线产生;其照射量与放电型式、放电距离、电极材料、放电电压及放电次数等因数有关。每次试验中,在高压放电场中的照射量平均在0.54—8.67mR范围。     

热释光剂量测量方法及其在高压放电辐射场测量中的应用

本文简要地描述了热释光剂量测量方法的原理、特点及其读测方法。本文还重点分析了高压放电幅射场的基本特征和用热释光剂量方法进行测量的可行性和基本方法。分析表明热释光剂量测量方法在高压放电场中应用是可行的。     

铜和磷杂质对LiF(Mg,Cu,P)热释光特性的影响研究

ＬｉＦ（Ｍｇ,Ｃｕ,Ｐ）和ＬｉＦ（Ｍｇ,Ｆｉ）热释光磷光体的ＴＬ特性的主要差别在ＴＬ灵敏度,奶量响应和热稳定性三个方面,其产生原因都与铜和磷杂质的掺入有关。ＬｉＦ热释光家族中,镁仍然是一种不可缺少的主要杂质,铜和磷杂质掺入后在磷光体中所形成的电子俘获中心和复合发光中心都与其他ＬｉＦ热释光磷光体有所不同,从而使其具有极高的ＴＬ灵敏性,异常的能量响应和较差的热稳定性。．