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1.
目前,半导体探测器、正比计数器、闪烁探测器都较广泛地用于探测X时线和低能γ射线。Nal(Tl)闪烁探测器的探测效率高,但能量分辨率差(对221 eV的X射线分辨率约为30％)。当被测样品中所含核素不多而能量又相差较大时,选用薄Nal(Tl)闪烁探测器还是合适的。
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2.
采用有效措施降低本底是低水平放射性测量中的重要环节。在低水平测量中普遍采用闪烁测量装置,而光电倍增管是闪烁测量装置中不可缺少的部件,所以降低光电倍增管的放射性含量对于降低本底和最小探测极限是有意义的。
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