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通过改进的水浴自组装技术,制备出由氧化石墨烯纳米片组成的氧化石墨烯(Graphene oxide,GO)薄膜,对该薄膜进行γ射线辐照后采用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射光谱(XRD)对辐照前后的薄膜进行表征,分析辐照对GO薄膜的改性作用。结果表明,辐照后GO薄膜的层间距由0.94nm减小到0.80nm,薄膜中GO纳米片的平均厚度从1.69nm减小到0.86nm,证明了γ射线对GO薄膜良好的还原效应,使GO纳米片的层间官能团减少并导致了层间距和厚度减小。本文还探讨了γ射线辐照对GO薄膜的还原机理。  相似文献   
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