一种确定活性碳取样滤盒中131I活度的新方法

代替传统的通过效率刻度测量131I活度的方法,借助于MCNP5模拟和求解病态矩阵方程得出131I在取样滤盒中的深度分布和总活度.该方法稳定性良好,无需制备标准样品和效率刻度,有利于快速准确地监测131I的排放；可以给出深度分布,有助于了解131I在取样盒中的物理进程.     

氚污染监测中的异常现象研究

由于在实验过程中频繁操作氚钛源(TiT源),造成了实验室氚污染.专门的氚污染监测机构用氚表面污染测量仪进行监测,发现有遮挡物遮挡、不容易污染到的地方污染水平比容易污染到的地方还高,这是不合常理的一种异常现象.经过分析发现,污染异常的地方常年受氢(氘)气放电源照射,这种异常很可能与气体放电有关,论文给出了假设性解释.     

一种确定活性碳取样滤盒中~(131)Ⅰ活度的新方法

代替传统的通过效率刻度测量131Ⅰ活度的方法,借助于MCNP5模拟和求解病态矩阵方程得出131Ⅰ在取样滤盒中的深度分布和总活度。该方法稳定性良好,无需制备标准样品和效率刻度,有利于快速准确地监测131Ⅰ的排放;可以给出深度分布,有助于了解131Ⅰ在取样盒中的物理进程。     

基于BIXS方法的气体中高浓度氚在线测量技术

工艺气体中高浓度氚的在线测量要求探测器具有体积小、密封性好、稳定性高等特点。针对该需求,本工作基于氚β射线诱发X射线谱测量方法(BIXS)建立了高浓度氚在线测量实验系统,采用PENELOPE程序建立了理论计算模型,对系统中5个关键参数进行了设计优化,搭建了1.77 mL小体积BIXS实验系统,使用含氚的氢氩混合气体对实验系统进行了响应能谱测量,并对获得的BIXS能谱谱形进行了初步分析。实验结果表明,对于含氚的氢氩混合气体,BIXS系统重复测量结果显示全谱计数率偏差<0.8%,Ar的Kα峰计数率偏差<1.3%,Au的Mα峰偏差<3.8%,整体稳定性较好;不同压强下BIXS实验系统测量结果显示,BIXS能谱总计数率、Ar的Kα峰强度以及轫致辐射谱强度随压强增加呈线性上升趋势,但Au的Mα峰强度在该气氛下几乎不随氚的分压改变。     

高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

利用HPGe探测器及DSPECPlus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量.结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失；与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.0％～3.8％.这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56％.     

圆柱氧化钍装置上的中子及伽马穿透能谱实验测量

利用D-T中子对氧化钍圆柱装置进行了辐照。样品直径为30 cm、厚度为15 cm。在不同的布局状态下,采用芪晶体闪烁体基于反冲质子法对1 MeV~15 MeV中子能谱进行了实验测量;基于反冲电子法对中子辐照下和辐照后的0.5 MeV以上伽马能谱进行了测量。对能谱中的分布规律、与布局状态的关系进行了比对分析。     

氢气放电源打靶谱的分析

在以氢气放电源打钆靶为例,分析氢气放电源打靶谱时,发现有以下几类谱线:源谱、靶材料的特征X射线、衍射谱线和一些未知谱线。根据打靶的初级谱可以分辨出源谱;根据靶材料的成分可将特征线区分出来;用改变靶面和入射角、固定测量角的方法及打多晶体靶和非晶体靶的方法可以分辨出X射线衍射谱线;剩下的无法辨识的那些谱线是一种未知谱线,对它的认识还在深入中。     

利用伴随α粒子能谱分析固体氚靶中氚浓度深度分布

在目前的氘氚中子发生器源中子分析过程中,固体氚靶中氚浓度深度分布信息的缺失是普遍遇到的问题。为解决此问题,本文建立了利用伴随粒子能谱反演氚浓度深度分布的模型,采用来自氚钛靶的α实验能谱作为模型测试对象,通过该模型获得了氚钛靶中氚浓度深度分布的数据。结果表明,氚浓度随氚钛靶深度的增加呈双峰趋势,两峰之间的氚浓度波谷位于靶中0.94 μm处,该深度正是入射氘粒子的射程极限。所得的氚浓度深度分布趋势与其他实验方法测量结果相符,表明该模型能为氘氚中子发生器的源中子分析提供即时的氚浓度深度分布信息。