浅谈发展水利事业的重要性

文章指出水利事业的发展事关国民经济和社会发展的总体大局,党中央和国务院高度重视水利事业的发展,要求逐步建成"民生型"、"节约型"和"友好型"水利服务体系。     

热激活延迟荧光器件性能影响因素研究进展

热激活延迟荧光(TADF)材料能够充分利用单重态和三重态激子,其理论内量子效率可达100%,突破了传统荧光材料的极限。TADF材料具有生产成本低、易合成、效率高等优点,近年来受到了广泛关注。介绍了TADF材料分子设计和器件结构设计的基本原则,综述了近年来TADF器件的最新研究进展。     

ICF靶丸表面形貌检测系统性能分析

基于原子力显微镜与精密的气浮轴系,建立了靶丸表面形貌检测系统。对该系统的各项性能指标进行了评定,研究结果表明,系统的随机噪声误差在10nm量级,轴系的回转精度误差功率谱振幅在10^-2量级,与微球轮廓功率谱幅度相差两个量级以上,系统的稳定性较好,波长为几百纳米以上的局部颗粒能够被精确分辨。     

基于AFM的靶丸表面轮廓仪设计及其测量精度分析

基于商用原子力显微镜（AFM）建立了靶丸表面轮廓测量仪系统，并对该系统的精密回转轴系进行了结构设计．为了评价系统的测量不确定度，进行了气浮轴系回转精度测试，确定了回转轴系的误差曲线，其最小二乘圆度误差为48 nm；同时对安装回转轴系后AFM的测量噪声进行了测试，并通过结构改进使静态噪声幅值降为约10nm．应用这一系统进行了靶丸表面圆周迹线的测量实验，实验测量出该系统运转测量时噪声幅值约13 nm，综合测量误差约49．7 nm，此测量精度可以通过回转轴系的误差分离来进一步提高．     

立式靶丸AFM表面轮廓仪系统精度测试

研制了立式轴系结构靶丸AFM表面轮廓仪,对测量装置的精度进行了系统的测试。针对影响测量结果的不确定性因素,分别从气浮轴系回转误差、系统静态噪声误差以及综合测量误差几个角度开展实验研究。采用标准球及两步回转误差分离法获取了气浮轴系系统误差数据,在实际测量时作为系统误差进行消除。综合测量实验证明,该系统的测量噪声峰谷极差约22 nm,RMS为5.2 nm。     

新型有机电致荧光材料研究进展

有机发光二极管因独特的优势被看作新一代的照明及平面显示技术,引起了研究人员的广泛关注。传统的荧光材料仅能利用单重态激子发光,因而效率并不理想。近年来,能够利用三重态激子能量发光的新型荧光材料的研究实现了新的突破。按照三重态激子到单重态激子的转化机理,荧光材料可以分为三重态-三重态湮灭、热致延迟荧光和局域电荷转移杂化激发态三种特殊类型。本文围绕着这几种类型的荧光材料展开了探讨,介绍了有机电致荧光器件的概况以及不同类型荧光材料的发光机理,并从分子设计的角度说明了高性能发光器件的设计思路。     

激光靶丸全表面检测与功率谱特征评价

本工作基于靶丸全球面测量的经纬迹线法,应用由原子力显微镜、精密回转气浮轴系及辅助转位轴系等组成的靶丸表面形貌测量系统,对直径0.34mm的空心塑料靶丸表面进行了测量实验。实验选择了圆周9条经圆(间隔20°),每个经圆方向上纬圆间隔10μm,最大偏移20μm的方案,获取了靶丸全球面的经纬测量迹线,并对测量结果进行了模数-功率谱特征曲线和表面均方根粗糙度的分析。     

轴向载荷作用下的样品微纳米形貌测量装置

为解决材料在受力状态下微观形貌的检测问题,开发了一套原位拉伸实验装置.该装置可以与不同测量设备结合,在样品被拉伸过程中,观察微纳米尺度的形貌变化.对于一个20 mm长的样件,该装置可以实现拉伸的最大应变为400%,最大拉伸力为19.6 N.以薄膜材料为例,观察了样品在受轴向拉伸载荷状态下微米尺度和纳米尺度形貌的变化情况,同时得到了应力-应变曲线.实验结果验证了本装置的可行性.     

MEMS器件圆度误差纳米级测量方法研究

为了测量毫米以下尺寸MEMS零件的圆度参数,建立了将扫描探针显微镜(SPM)系统的原子力测头作为测量传感器,配合精密回转气浮轴系实现对待测试件进行转位的测试系统;讨论了精密气浮轴系、驱动电机、装夹调心装置等关键部件的设计问题及测量系统的工作原理.应用测试系统测量了直径约为0.2mm的微细电极外表面形貌,对获得的表面数据进行了滤波处理,最后使用最小二乘圆度评定准则计算其圆度误差为3.210μm.这种方法可以为圆形MEMS器件的制造工艺提供可行的测量方法与手段.     

X射线法ICF靶丸几何参数批处理及壁厚分布计算

分析了靶丸微焦X射线成像的基本原理,采用改进Hough变换对靶丸X射线数字图像进行自动圆参数检测,结合最小二乘圆拟合算法获得了精确的多层靶丸几何参数,给出了靶丸图像批处理的整个分析流程,并开发了一套完整的靶丸X射线图像批处理计算软件。在此基础上讨论了靶丸壁厚分布的批处理计算问题,给出了多层靶丸壁厚分布状态及单层靶丸全表面壁厚分布情况的计算示例。