在刻度Si(Au)面垒半导体探测器中发现的一个问题及其解决方法

在刻度Si(Au)面垒半导体探测器过程中观察到241Am标准放射源的的峰道址随入射窗的位置及大小的移动现象.猜测原因可能是Au层镀的不均匀导致电子-空穴对的复合几率增加,但具体原因仍需要进一步分析.由于这对重离子-原子碰撞实验中测量背散射谱极为不利,我们给出解决该问题的方法是固定入射窗的位置及大小,并刻度两套背散射谱仪,其对称放置在靶室内同时测量背散射离子,通过比较便可得到可信的实验结果.     

简单实用的点焊钳

1.问题的提出 我们在研制超小型电磁密封性继电器的过程中,有许多部件的装配问题均靠点焊来解决,而借助点焊机和成形电极很难满足产品的需要,其主要原因有以     

Ar16+与Zr作用产生的X射线谱

本工作对超导离子源(SECRAL)上的10～20 kV/q Ar16 和Ar17 入射到金属Zr表面进行实验研究.实验结果表明,高电荷态Ar16 在金属表面存在着多电子激发过程.Ar空心原子的K层发射X射线强度随入射离子的动能减少,靶原子Zr的L壳层发射X射线强度随入射离子动能的增加而增强.Ar17 单离子的Kα-X射线产额比Ar16 单离子的Kα-X射线产额大5个数量级.     

JRC-490M型超小型密封直流电磁继电器的设计

文章在介绍JRC－490M型超小型密封在流电磁继电器设计过程的同时,针对提高继电器耐恶劣机械环境能力这一关键问题,重点从产品接触系统、电磁系统的理论计算入手,进行详细分析。     

简单实用的点焊钳

在研制超小型电磁密封继电器过程中,其装配工作有80%是靠焊接来完成的,而其中点焊又占相当大的比例.开始,采用点焊机配成形电极的方法进行焊接,发现有许多问题难以解决.首先是继电器产品体积小,而内部需装配近20个零件,因而无法使电极头伸入有限的空间;其次在进行簧片和触点的焊接时,因点焊机两极间的焊接压力太大,使触点表面留有明显的焊接痕迹,且两极压力的调节很不方便;再者,因点焊机两极空间的限制,有些零件在焊前定位比较困难.针对上述问题,设计制作了一种简单实用的焊钳,具体结构见右图.     

JRC—490M型超小型密封直流电磁继电器的设计

文章在介绍ＪＲＣ－４９０Ｍ型超小型密封直流电磁继电器设计过程的同时，针对提高综电器耐恶劣机械环境能力这一关键问题，重点从产品接触系统、电磁系统的理论计算入手，进行详细分析。