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轻元素深度剖面分析有着许多实际的应用,如:聚变堆第一壁的辐射损伤;结构材料的氢脆;氧化、贮氢材料、超导材料、太阳能材料中氢的分布等。本文介绍用于轻元素深度剖面分析的核反应法、质子弹性散射法、前散射符合法和弹性反冲探测法,并简单介绍这些方法的应用。 相似文献
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在质子激发X射线荧光分析中,轻元素发射的X射线能量太低,不能进行分析。 负的“基本”粒子如μ~-、π~-、K~-等,入射到物质中时,通过放出Auger电子和X射线而减速,最后到达IS轨道,和物质中的原子核一起形成“基本”粒子原子。这种原子的结合能比普通原子的结合能约大M_m/M_e倍(M_m为“基本”粒子质量,M_e为电子的质量);放出特征X射线 相似文献
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