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中子辐射损伤HPGe探测器的修复系统 总被引:1,自引:1,他引:0
在束γ实验中,锗探测器因受中子辐射损伤而性能变差、能量分辨率变坏。本文介绍了自建的锗γ探测器中子辐射损伤修复系统的组成和工作情况。用该系统已成功地修复了4台N型HPGe探测器。 相似文献
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使用BGO—HPGe阵列的在束γ实验技术 总被引:1,自引:1,他引:0
对使用多个带BGO康普顿抑制器的HPGe探测器进行的在束γ多参数测量的实验要求及相应的电子学线路做了详细讨论。所使用的电子学线路具有逻辑合理、工作可靠、灵活方便的特点,可适用于γ单谱、γ-γ符合、γ多重性以及康普顿抑制性能等多种测量。 相似文献
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自行研制了多普勒能移反冲距离法测量寿命的装置,对装置的性能作了测试,并首次在国内用于核实验。用^31P轰击^93Nb靶测得了^120Xe基带能级寿命及^121Cs和^117I的部分能级的寿命。实验结果表明,用多普勒能移反冲距离法能测量10^-12 ̄10^-9s范围核激发态寿命。 相似文献
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