食品样品密度差异对HPGe γ谱仪测量结果的影响

样品与标准源质量密度往往不一致。添加等量的放射性核素~(232)Th,制备6个密度梯次分布的食品样品,用高纯锗(HPGe)γ谱仪对~(232)Th子体各谱线分别进行能谱分析,用全能峰面积净计数率比计算样品的相对自吸收校正系数。再用无源效率刻度软件Gammaclib对这6个密度样品进行建模仿真,拟合出各谱线效率,用效率比计算样品的相对自吸收校正系数。两种方法结果表明,食品样品与标准源的密度差异会对实验结果产生影响,需要进行自吸收校正。     

激光三维扫描γ谱仪无源效率刻度

为解决非规则几何体样品的γ放射性活度测量的效率刻度问题,探讨了一种无源效率刻度新方法。该方法通过激光三维扫描建立测量对象的几何模型,利用点源对HPGe探测器进行表征获得探测器的关键参数如晶体尺寸。将几何模型离散成许多立方网格体,利用数值积分方法计算效率刻度因子。测试结果表明,该方法能够适用于不规则几何体样品的效率刻度因子计算。