排序方式: 共有4条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
2.
3.
本文主要介绍如何利用逻辑模拟技术帮助测定电路中的故障。通过对我们已经在655机上实施的方案的思想作简明的描述,以求对当前国内外在这方面工作中常用的方法和技术有一个较清晰的了解。如故障集(表)的产生,逻辑模拟中的表驱动方法,选择性跟踪技术,产生测试码(序列)时的预模拟思想,故障字典与诊断测试序列的确定等。 相似文献
4.
1