虚拟仪器不确定度问题探讨

针对虚拟仪器迅速发展中不确定度难以评定的问题,分析了其不确定度的主要来源和评定遇到的主要问题,并提出了相应的解决方案。     

一种数字集成电路标准样片的设计实现

标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。     

一种集成电路测试系统在线计量方法研究

论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具有更高的可信度,同时具有更好的计量效率。