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为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。 相似文献
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本文通过讲述UIS的测试原理,得出雪崩计算公式,着重对目前两种不同模式的测试方法,从测试原理上进行比对,总结两种模式下的特点。 相似文献
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从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面,在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法,再针对不同的测试方法进行比较,从而达到提高集成电路中测效率的目的。 相似文献
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热阻值是评判功率MOSFET器件热性能优劣的重要参数,因此热阻测试至关重要。通过对红外线扫描、液晶示温法、标准电学法3种热阻测试方法比较其优缺点,总结出标准电学法测试比较适合MOSFET热阻测试。在此基础上依据热阻测试系统Phase11,阐述功率MOSFET热阻测试原理,并着重通过实例对标准电学法测试热阻的影响因素测试电流Im、校准系数K、参考结温Tj以及测试夹具进行了具体分析,总结出减少热阻测试误差的方法,为热阻的精确测试以及器件测试标准的制定提供依据。 相似文献
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