基于信度评估的线结构光多重曝光条纹提取

在单线结构光三角测量法的实际应用中，图像中条纹截面灰度分布的可靠性是保证条纹中心提取精度的重要基础。在物体表面反射特性不均匀的测量场景中，受欠曝光与过曝光的双重影响，造成条纹截面灰度分布不均匀、条纹中心可信度低等问题。基于上述问题，对复杂反射特性表面的单线结构光条纹提取技术进行了研究。提出了一种基于信度评估的条纹提取方法。创新性地应用了条纹能量密度与条纹宽度相结合的双参数评价标准，有效避免了单一能量信度标准下约束力不够的问题。该方法依据信度阈值识别多重曝光图像中的可信条纹，并将可信条纹拼接重建成最终条纹图像。试验结果表明，重建图像具有全局可信度，有效提升了条纹中心计算精度。该方法能够为复杂场景下三维测量技术的发展提供一定参考。