粒子滤波优化的相关向量回归多步预测方法

为有效削弱多步回归预测中的累积误差,提出粒子滤波优化的相关向量回归多步预测方法。采用相关向量机建立预测对象的状态特征参数回归预测模型。将回归模型作为系统状态方程,预测输出的概率分布作为重要性分布,采用粒子滤波算法对预测值进行动态修正,逼近状态的最优估计。对比实验验证了该方法的预测精度相比相关向量回归多步预测有较大的提高。     

基于相关性模型的混合电路系统测试性设计研究

1针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.     

基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计

随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。     

SN74ACT8990芯片在数字电路测试中的应用

SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的浏试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景.