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针对确定内建自测试向量发生器设计中常存在着对冗余向量依赖,导致测试应用时间增长,并产生额外的测试功耗等问题,提出一种新的低功耗确定测试向量发生器的综合算法.该向量发生器采用非一致细胞自动机的结构实现,利用基于模拟退火的动态邻域扩展算法寻找优化的细胞自动机的拓扑连接关系.对标准组合电路仿真实验的结果表明,所综合出的向量发生器可有效地产生给定的低功耗确定向量集,并且不影响原有的故障覆盖率和测试时间. 相似文献
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提出了基于小生境遗传算法的系统级芯片(SoC)测试存取机制(TAM)的优化方法.结合TAM宽度约束进行SoC中功能内核(IP)的测试壳的优化,解决测试存取机制的测试总线划分及测试总线细分等的优化问题,取得了较好的结果,并有效地减少SoC的测试时间.采用分支-联合(Fork-Joint)的方法可得到更为优化的TAM方法,对于ITC 2002基准SoC d695,比未采用分支-联合方法的TAM划分方法的测试性能最大可以提高30%,和其它方法的优化结果相比,该方法的平均效果优于其它方法1到9个百分点. 相似文献
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考察了弱磁场(WMF)对零价铁去除水中U(Ⅵ)效能的影响,并探讨了其主要机理。结果表明,在初始pH(pHini)为3.0~7.0,有弱磁场(w/WMF)的条件下,零价铁去除U(Ⅵ)的一级动力学速率常数提高了0.7~11.2倍。当初始pH为4.0、零价铁的投加量为0.5 g·L-1时,弱磁场作用下的零价铁对U(Ⅵ)的去除容量为1.7 g·g-1,相比无弱磁场(w/o WMF)时提高了约0.3倍。pH变化、Fe2+浓度和SEM的结果说明,弱磁场通过促进零价铁的腐蚀促进其对U(Ⅵ)的去除。从XPS光谱分析中发现,零价铁去除U(Ⅵ)的主要机理为先吸附、后还原。弱磁场只能够加速其吸附和还原过程,而不能影响零价铁对U(Ⅵ)的去除机理。弱磁场促进零价铁去除U(Ⅵ)具有价格低廉、环境友好、无须额外的能量和药剂投入等优点,因而有良好的应用前景。 相似文献
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