大容量存储测试系统设计与实现

介绍了一种基于AT89S52单片机所构成的大容量存储测试系统的设计。该测试系统采用CH375芯片作为USB主控芯片,使用普通U盘为存储设备用以存储MTX传感器采集到的大量多参数数据,配备相应的软件实现数据的再现,方便与计算机的数据交换,并给出了相应硬件电路以及软件的设计。最后,给出了设计调试结果,证明系统设计方案的可行性。     

基于多参数存储测试技术的智能事件记录仪的设计

介绍了一种基于AT89S52单片机所构成的多参数存储测试系统的智能事件记录仪样机,提高运输包装事件的分析能力.采用MTx传感器采集多参数数据,使用U盘为存储设备用以存储MTx(motion tracker)传感器采集到的大量多参数数据,并配备相应的软件用以绘制以时间为基轴的三维加速度、三维转角率、三维地磁场、温度等多参数的曲线图进行数据还原.文中给出了相应硬件电路以及下位机软件的设计,绘制出了数据还原的曲线图,成功验证了试验样机的可行性.