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8O31单片机控制的74系列集成电路测试仪清华大学电机系林伟军,唐庆玉,梁作清,曹宇一、可行性分析由于74系列集成电路各方面的综合优势,在使用中非常广泛,但是其损坏之事时有发生,所以迫切需要有一种测试仪器,能快速测试其逻辑功能以判断是否好坏。对74系...  相似文献   
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本文介绍了用8031单片机控制对74系列集成电路芯片的逻辑功能进行测试的原理,重点介绍了测试插座接口的设计方法及测试程序的编程技巧。  相似文献   
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