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1.
分析了噪声以及器件失配对延迟锁相环的抖动影响,并对延迟锁相环的各模块进行了Verilog-A精确建模和性能仿真。仿真结果表明,器件失配对延迟链中间相输出的抖动影响最大,产生了约50ps的偏移;而噪声对延迟链最后一相输出的抖动影响最大,其peak-to-peak抖动值达到85ps。另外,与电路晶体管级仿真相比,通过Verilog-A建模节省了大量仿真时间,极大地提高了设计效率。  相似文献   
2.
正电子发射断层成像系统(PET)前端读出电路是数模混合信号超大规模集成电路芯片.针对多通道高性能PET专用集成电路芯片的特点,采用JTAG控制器对该芯片进行初始控制和辅助测试.采用TSMC 0.18μmCMOS工艺设计实现了一个可扩展的JTAG控制器IP核,支持14组可扩展控制信号和16个多位寄存器扫描链的读/写操作,并配备定制的底层驱动软件.该JTAG控制器IP核还可用于其它混合信号VLSI的控制与测试,具有较强的通用性和工程实用价值.  相似文献   
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