GaAs／GaP界面的X射线掠入射衍射分析

本文用掠入射全反射Ｘ射线衍射，结合常规Ｘ射线衍射，对ＧａＡｓ／ＧａＰ应变层界面进行了研究，给出了界面关配度、薄膜晶胞的畸变和界面弛豫等结构参数．结果表明掠入射衍射（ＧＩＤ）是测定半导体薄外延膜界面结构的有效工具．     

终端的杀死和救活

UNIX提供了Who和PS程序用来观察用户及终端的登录和运行情况,并有Kill可杀死用户进程和救活终端.本文提供了一个程序Kickout,综合使用Who、PS和Kill,可以杀死指定终端、闲情用户或除该程序调用者外的所有用户的活动进程,强行把用户注销,而