某型电子产品贮存寿命加速退化试验方法研究

由于导弹武器电子产品种类繁多、组成复杂,贮存寿命加速退化试验方案设计难度较大,针对该问题提出了通过对薄弱环节进行加速寿命试验推出导弹武器电子产品贮存寿命的方法,以弹上某电子部件为例,选用Arrhenius模型加速模型,开展贮存寿命加速退化试验方案设计,试验结果表明:在置信度为0.7、可靠度为0.95的条件下,在试验温度分别为75℃、80℃、85℃时,试验时间分别约为184天、126天、88天.该方法为今后导弹武器电子产品开展贮存寿命加速退化试验提供了一种思路.     

稀土Dy~(3+)掺杂YAG发光材料的制备及其变温发光特性研究

采用溶胶-凝胶法与燃烧法相结合制备了YAG:Dy~(3+)粉体,研究了不同Dy~(3+)掺杂浓度对YAG:Dy~(3+)晶体结构和发光特性的影响。XRD结果表明,YAG:3%Dy~(3+)和YAG:4%Dy~(3+)样品均保持了基质YAG的晶相结构。在365nm光激发下,常温下两种掺杂浓度样品的光致发光峰主要集中在可见光区范围,其中掺杂浓度为4%的样品的发光强度要高于浓度为3%的样品。YAG:4%Dy~(3+)样品变温光致发光特性结果表明,在373K~773K温度范围内,发射峰的峰位没发生变化,由于热淬灭效应,573nm和478nm的发光峰的发光强度随温度升高而整体降低,而455nm处的发光峰强度随温度升高而整体升高。计算了455nm和478nm两个发光峰的荧光强度比,并将其与温度关系进行了拟合,得到了Dy~(3+)离子的热耦合能级~4I_(15/2)→~6H_(15/2)和~4F_(9/2)→~6H_(15/2)的有效能级差ΔE为670cm~(-1)。YAG:4%Dy~(3+)的测温绝对灵敏度在373K达到最大值0.00694K~(-1)。     

一种信号处理电路传导抗扰测试分析

信号处理电路是一种传统的数字电路，其电路抗扰能力是薄弱点。本文通过典型案例，从信号处理电路的传导抗扰测试试验入手，利用仿真软件针对信号处理电路进行电磁兼容分析及电路设计改进，取得了良好效果，供电路设计人员及可靠性仿真人员参考。