基于非本征F-P干涉技术的全光纤位移测量系统北大核心CSCD

为解决传统分离镜组式干涉仪体积较大,无法在空间受限的环境条件下应用的问题,开展了全光纤F-P干涉位移测量技术研究。根据干涉原理分析了不同反射率条件对干涉信号形式的影响,计算得出:当反射率为4%时,多光束干涉的光强信号将近似为正弦函数,并利用有限元仿真对位移测量原理进行验证。设计搭建了基于非本征F-P干涉技术的全光纤位移测量系统。实验结果表明:该系统在1 min内静态噪声电压标准差为23.3 mV;在1 mm位移范围内,该系统与XL-80激光干涉仪的测量结果呈现高度线性关系,线性相关系数R 2为1,且该系统位移测量重复性优于XL-80激光干涉仪。     

复杂嵌入式实时系统体系结构设计与分析语言:AADL

首先归纳了AADL(architecture analysis and design language)的发展历程及其主要建模元素.其次,从模型 驱动设计与实现的角度综述了AADL 在不同阶段的研究与应用,总结了研究热点,分析了现有研究的不足,并对 AADL 的建模与分析工具、应用实践进行了概述.最后,探讨了AADL 的发展与研究方向.     

表面粗糙度国际比对自动测量系统关键技术研究

基于中国计量科学研究院的表面粗糙度基准计量装置,开展了视觉定位系统、自动操作系统和多自由度位移系统的研究,从而实现依据国际比对协议规定流程的自动化测量。实验验证表明：该系统可有效实现表面粗糙度的自动化测量,满足国际比对的要求。在对国际比对规定的表面粗糙度标准器的测量实验中,该系统的自动定位测量的重复性为4.2 nm,相比于手动定位测量提高了2.6倍,有效地减少了测量过程中引入的人为误差。     

基于改进Wave-U-Net跳跃连接的盲源分离算法

为了进一步提升现有盲源分离算法的分离性能,本文在Wave-U-Net的基础上提出了一种全尺度跳跃连接模型。首先为了解决Wave-U-Net下采样过程中信号特征丢失问题,该模型在跳跃连接中增加了卷积操作,通过对不同时间尺度的特征图进行连接,有效地结合了信号的浅层特征和深层特征,提升了模型的分离性能。针对Wave-U-Net最佳深度取值和全尺度跳跃连接模型的参数过多的问题,本文进一步提出了多尺度跳跃连接模型。在多尺度跳跃连接模型中,通过嵌入不同深度的Wave-U-Net来代替跳跃连接中的卷积操作,在牺牲一部分分离性能下减少了模型参数,该模型共享下采样块来降低模型训练时间以及模型最佳深度取值带来的影响。仿真实验表明,相比于其他基线模型,本文提出的两种模型能显著提升信号分离性能,在SDR,SIR,SAR提升奖将近3~4 dB。      

现代信息化社会与数学教师素质

教师是教育的第一资源和关键要素。在新的信息技术社会化时代，数学教师应率先推进信息化的进程，由传统型教师向新型教师转变，提高自身现代信息技术素质。实现跨越式发展。     

微积分教学中的辩证唯物主义观点教育

微积分作为高等数学的基础,本身蕴含了丰富的哲学思想。数学教师要在微积分的教学中适当地渗透辩证唯物主义观点,使学生能用实践与认识、对立与统一、运动与变化等辩证法思想来探究数学问题。使学生的学习过程成为再发现、再创造的过程,从而激发学习的积极性,树立学好数学的信心,形成能够克服困难、勇于追求新知的良好思维品质。     

触针式表面形貌测量仪探针几何特性引起的失真机理与识别方法

触针式表面形貌测量仪广泛应用于表面粗糙度、几何形状和波纹度等参数的测量,但探针与被测表面交互时所产生的卷积效应会导致测量结果的失真。通过分析探针几何特性引起的失真机理,将失真按其特性分为典型失真和复杂失真。针对探针球形针尖和锥角复合效应引起的失真现象,提出了一种复杂失真的多模态识别方法。实验结果表明：相较于形貌测量仪单模态识别典型失真的限制,该方法可以有效识别形貌测量结果中的复杂失真,同时对测量结果提供可信度解释,为测量结果中失真数据的准确识别和还原提供新的思路。     

计量型紫外显微镜实时焦点及倾角测量算法的研究

计量型紫外光学显微镜采用248 nm深紫外光源和高数值孔径物镜系统,工作距离和景深均很小,为实现清晰的成像,需要进行自动聚焦。因此研究了一种焦点及倾角测量算法,采用基于图像处理的自动聚焦方法,选择Tenengrad函数作为图像清晰度判据,进行清晰度评价。针对在扫描测量时标准样板倾斜与镜片可能会出现相撞的问题,提出了样板倾角测量方法来判断样板的倾斜方向和角度,从而确定物镜执行器的移动方向,实现物镜扫描成像过程中的动态对焦。     

计量型原子力显微镜环境温度的测控

在纳米结构的检测与表征领域中,温度是影响纳米尺度测量精度的重要误差源.为此,根据测量材料的热物性和空气折射率与光学测量的关系,以计量型原子力显微镜和大范围纳米测量机为例,首先通过设计高精度多点测温系统进行精密的温度测量,分析估计在扫描测量纳米结构过程中温度变化对其测量结果的影响.其次对纳米测昔中温度测量的相关技术问题进行了研究,以保证纳米表征和检测在纳米尺度及其量值上的准确性.