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基于扫描的可测性设计技术需要大量空间存储测试矢量,并且难以实现全速测试,随着芯片规模越来越大,频率越来越高,其测试成本也将越来越高,逻辑内建自测试(Logic Built-In-Self-Test,LBIST)技术以其简单的硬件实现和较小的设计开销开始被业界广泛使用,但该技术也存在覆盖率较低的问题,主要原因在于:一是线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)产生的伪随机矢量的空间相关性;二是电路结构上对伪随机矢量的抵抗性;针对这两种原因给出了一些改善的方法,从而达到提高故障覆盖率的目的,为实际设计提供借鉴。 相似文献
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芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的测试遇到了新的挑战.本文探讨了高速互连测试的难点,传统互连测试方法的不足,进而介绍了互连内建自测试(IBIST)的结构以及方法,最后给出IBIST在FPGA中的一种实现. 相似文献
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