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运用码密度的方法解决了FPGA内部专用进位链延迟单元的非线性问题,提高了FPGA中时间数字转换器(TDC)的测时精度.通过研究发现FPGA中进位链非线性是造成TDC测试精度降低的主要原因,针对这一问题,采用了统计学的码密度法进行了非线性校正,并确定了样本的数量以及校准值的选取.在EP2C5T144C8芯片内构建了TDC和校准模块,通过输入近似的大量随机跳变信号,得到延迟单元的准确延迟时间和非线性测试结果.实验结果表明,运用码密度法可以准确地反映出延迟时间在TDC中的分布情况. 相似文献
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