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为改善空气放电模拟方法,用静电放电模拟测试装置研究了IEC标准规定的空气式静电放电的放电特性。通过手动方式使充电后的放电电极快速靠近电流靶获得空气静电放电事件,放电电压具有2~20 kV较宽范围的电压电平和正负电压极性。利用Agilent数字存储示波器测量了空气静电放电放电电流的上升时间、峰值以及耦合到自制的金属半圆环上的峰-峰值电压,并记录了放电电流和耦合电压的波形。通过分析和比较测量结果研究了测量参数随放电电平的变化趋势。空气放电电流的特性与静电放电抗扰度试验标准IEC 61000-4-2对接触式放电的规定类似,耦合电压与放电电压之间没有直接的相关性。实验表明在一定电压范围、电极速度可控时可能获得空气放电的重复性。 相似文献
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ESD发生器开关动作对抗扰度试验的影响 总被引:1,自引:1,他引:1
分析了人体-金属静电放电(ESD)发生器开关动作的基本过程;说明了在ESD抗扰度试验中ESD发生器开关动作的影响。通过空气放电模拟测试装置测量并记录了ESS-200 AX、SANKI NS61000-2A和NSG-435 3种ESD发生器开关动作的影响。由小环耦合电压的测量研究了ESD发生器开关动作产生的辐射场。结果表明,使用不同的ESD发生器开关动作的影响程度不一样,且使用相同的ESD发生器开关闭合和开关释放的影响存在差异。对小环耦合电压的频谱分析表明,开关动作会产生频谱范围较宽的电磁骚扰,影响对高速逻辑器件的ESD抗扰度试验。在进行ESD抗扰度试验时,需考虑ESD辐射场,尤其需要降低或控制ESD发生器开关动作产生的辐射场。 相似文献
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ESD和方波脉冲对集成电路损伤效应异同性 总被引:1,自引:0,他引:1
为了考察不同波形脉冲对集成电路损伤效应的异同性,用ESD和方波脉冲对2种集成电路器件进行注入损伤效应实验,在采用曲线拟合分析法建立起波形参数与器件损伤参数间的数学模型后,讨论了不同脉冲注入时器件的损伤阈值和损伤机理。结果表明:2种注入方式对实验器件的损伤机理相同或类似;以损伤能量作比较,同一器件的ESD损伤阈值小于方波阈值;同属一个门类的这2种器件,方波阈值相差小而ESD阈值相差大且方波实验下所得器件敏感度排序与ESD脉冲注入时排序相同。2种注入方式下建立起的数学模型的表述形式虽有可能不同,但器件的损伤参数与脉冲参数间关系变化的实质规律不变。方波时可将所有参数都考虑进来拟合得到一个联合式,但ESD脉冲注入时这种拟合的准确度会降低,可能因实验脉冲参数变化的范围不大而引起。 相似文献
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基于Direct X和PCI总线的光栅扫描显示系统 总被引:3,自引:0,他引:3
对国内外雷达光栅扫描显示技术的研究现状进行分析,提出了新一代基于Direct X和PCI总线技术的雷达光栅扫描显示系统。该雷达光栅扫描显示系统具有高性能、低成本、功能强、易于维修和功能扩展等特点。 相似文献
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基于PCI总线数据采集卡、高性能的CPU和通用AGP显示卡,利用DirectDraw技术开发的雷达光栅显示系统,实现了软件化设计,使其成本、故障率降低,测试方便,应用灵活,提高了雷达的生存能力。 相似文献
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讨论了虚拟暗室系统的组成和应用,在此基础上设计了实验,在实际中对其背景滤除模式和干扰源定位模式进行了使用,对结果的分析表明:实验中的平均背景滤除强度为11.323dBμV/m,随着背景天线与设备天线之间距离的减小,滤除效果变差;当背景中含有强度与设备产生信号强度相当的分量时,背景滤除的效果不理想。因此,背景滤除实质是一种平均滤除,在一些局部分量上得不到满意的效果。同时,两个天线性能参数的一致性等因素也会影响到背景滤除的效果。干扰源定位模式可区分同频但不同源的信号,通过比较前后两次相关的结果,不仅可确定设备产生的频谱分量,还可定位干扰源。 相似文献