基于IEEE 1500的嵌入式芯核外壳测试封装设计

由于IP芯核被嵌入到片上系统(SoC)后,无法直接对其输入输出引脚进行测试,传统的测试方法已不能满足IP核的测试需求。在对IEEE 1500 标准进行相关研究的基础上,分析了测试架构的结构功能及其相应的操作指令,对ITC’02基准测试电路中的h953芯片进行了外壳测试封装设计,并通过多种指令仿真验证了设计的正确性。     

动态模拟电路故障特征提取方法研究

介绍了现有的动态模拟电路故障特征提取方法,概述了网络分析法、频率特性分析法、节点电压灵敏度分析法、Volterra频域核提取法等动态模拟电路故障特征提取方法的发展现状并总结了其研究成果,并对各种方法的基本原理和优缺点进行了分析探讨.结合电路故障诊断的发展过程和趋势,指出了动态模拟电路故障特征提取的研究和发展方向.