SPC在软件过程度量中的应用及改进

在介绍软件过程度量原理的基础上,讨论Shewhart控制图的构成和分析方法。结合实例,分析统计过程控制在软件过程度量中的作用。针对传统Shewhart控制图无法区分软件过程之间影响的缺陷,借助选控图理论对现有方法在软件过程度量中的不足提出改进。有效区分软件过程的相互作用,定性和定量地分析软件过程的稳定性和性能。