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批间控制(RtR)是半导体晶圆生产过程控制的有效算法. 然而, 受测量手段与测量成本的限制, 难以实时检 测晶圆的品质数据, 即: 存在一定的测量时延, 通常该测量时延是随机, 时变的, 且直接影响批间控制器的性能. 为 此, 本文基于指数加权移动平均(EWMA)算法, 提出一种含随机测量时延的扰动估计方法. 在分析测量概率的基础 上, 建立包含测量时延概率的扰动估计表达式; 并采用期望最大化(EM)算法估计该测量时延的概率; 然后分析系统 可能存在的静差项, 给出相应的补偿算法; 最后讨论系统的稳定性. 仿真实例验证所提算法的有效性.  相似文献   
2.
本文作者依据多年工作经验,对变电站带电显示闭锁装置新技术研究分析,以便和同行进行切磋与交流。  相似文献   
3.
本文作者依据多年工作经验,对河北南网电力行政交换网技术研究分析,以便和同行进行切磋交流。  相似文献   
4.
本文作者根据多年以来工作实际经验,对某变电站断路器低温报警故障分析及处理分析,阐述了这一研究方法的实施办法,以便和同行交流与切磋。  相似文献   
5.
批间控制(Rt R)是半导体晶圆生产过程控制的有效算法.然而,受测量手段与测量成本的限制,难以实时检测晶圆的品质数据,即:存在一定的测量时延,通常该测量时延是随机,时变的,且直接影响批间控制器的性能.为此,本文基于指数加权移动平均(EWMA)算法,提出一种含随机测量时延的扰动估计方法.在分析测量概率的基础上,建立包含测量时延概率的扰动估计表达式;并采用期望最大化(EM)算法估计该测量时延的概率;然后分析系统可能存在的静差项,给出相应的补偿算法;最后讨论系统的稳定性.仿真实例验证所提算法的有效性.  相似文献   
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