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Exposed pad packages were introduced in the late 1980s and early 1990s because of their excellent thermal and electrical performance. Despite these advantages, the exposed pad packages experience a lot of thermo-hygro-mechanical related reliability problems during qualification and testing. Examples are die lift, which occurs predominantly after moisture sensitivity level conditions, and die-attach to leadframe delamination leading to downbond stitch breaks during temperature cycling. In this chapter, nonlinear finite element (FE) models using fracture mechanics based J-integral calculations are used to assess the reliability problems of the exposed pad package family. Using the parametric FE models any geometrical and material effects can be explored to their impact on the occurrence diepad delamination, and dielift. For instance the impact of diepad size is found to be of much less importance as the impact of die thickness is. Using the fracture mechanics approach, the starting location for the delamination from thermo-hygro-mechanical point of view is deducted. The results indicate that when diepad delamination is present, cracks are likely to grow beneath the die and dielift will occur. The interaction between dielift and other failure modes, such as lifted ball bonds, are not found to be very significant. The FE models are combined with simulation-based optimization methods to deduct design guidelines for optimal reliability of the exposed pad family.  相似文献   
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The authors describe the relaying concepts of charge comparison. Charge comparison is a new transmission line protection system. It is a form of current differential relaying. Charge comparison largely resolves the traditional problems of current differential relaying of transmission lines, which are that protection is lost if a channel fails, a large channel capacity is required, and precise channel delay compensation is required. This technique is suitable for the protection of two- or three-terminal AC transmission lines, of all lengths and voltage levels, with or without series of shunt compensation, with three-hole or single-pole tripping  相似文献   
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