一种测量纳米材料高频特性的新方法

本文介绍一种使用同轴线制备简易高频测试平台、运用射频设备测量纳米尺度样品高频性能的方法。使用该方法,窄脉冲射频信号在传输线中的延时测量精度达到10皮秒左右,发现了铜芯同轴传输线与多壁碳管同轴传输线的传输特性的区别。这一方法有可能推广到测试其他小尺度样品高频特性的研究中。