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刘爱奎 《山东轻工业学院学报》2000,14(1):67-68
对于证明f^(n)(ζ)=k一类题目,本文探讨了用插值法构造多项式辅助函数的规律,指出了多项式的次数等于导数阶数n,且k=a0n!其中a0是多项式的最高次幂的系数。 相似文献
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有理插值样条因其具有可任意选择的参数,在曲线、曲面的控制设计中显示了其它一般样条曲线所不具有的可约束性、也正是因为其具有参数,给其逼近性质的讨论增加了困难。 相似文献
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给出了利用分块矩阵法求解矩阵方程的一种简单方法,同时给出了算法步骤及应用举例。 相似文献
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插值曲线的形状控制--将值曲线约束于两给定曲线之间的问题 总被引:1,自引:0,他引:1
将插值曲线约束于给定的区域之内是曲线形状控制中的重要问题。本文利用一种分母为线性的有理三次插值样条,讨论了将该种插值曲线约束于给定的折线、二次曲线之上、之下或之间的条件,并给出了数值例子。 相似文献
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采用能谱仪(EDS)、光学显微镜(OM)、扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、表面三维轮廓仪及超声波仪,对Cu-Ni-Si合金带材表面白线缺陷及对应的铸态样品的化学成分和微观形貌进行观察和分析,探讨了白线缺陷的产生原因。结果表明:白线区域宏观上为基体大晶粒,表面覆盖一层不均匀的1~2μm的小颗粒,微观上存在白色孔洞区域、黑色孔洞区域以及孔洞周边颗粒区3种典型形貌,其中孔洞尺寸大小为2~5μm,孔洞深度约为200 nm。经过EDS测试,这3种形貌周围组织中O, Mg, Si元素含量较基体正常部分偏高;白线缺陷对应铸态样品经超声波检测后有缺陷回波,内部存在疏松缺陷,铸态缺陷处形貌与带材白线缺陷处形貌类似,且铸态缺陷处成分同样富含O, Mg,Si元素。因此,带材白线缺陷的产生原因可归结为铸锭内的疏松缺陷经后续加工形成。 相似文献
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给出了利用分块矩阵法求解矩阵方程的一种简单方法,同时给出了算法步骤及应用举例. 相似文献
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插值曲线区域控制的加权有理插值方法 总被引:5,自引:0,他引:5
将插值曲线约束于给定的区域之内是曲线形状控制中的重要问题,文中利用分母为线性的有理三次插值样条和仅基于函数值的有理三次插值样条构造了一种加权有理三次插值样条,由于这种有理三次插值样条中含有新的参数,给约束控制带来了方便,给出了将插值曲线约束于给定的折线、二次曲线之上(下)或之间的条件,最后给出了数值例子。 相似文献