双速率同步采样法在交流测量中的应用

中提出了双速率交流同步采样的新方法，解决了软件难以实现精密同步采样的问题，并导出数学模型。仿真结果表明，与传统方法相比，该方法具有更高的准确度。     

第三届全国电子束、离子束、光子束学术年会在北京召开

由中国电子学会生产技术学会三束学组和中国电子学会半导体与集成技术学会超微细加工及三束学组联合举办的第三届全国电子束、离子束、光子束学术年会于1984年11月2日—5日在北京举行。来自全国98个单位的258名代表出席了本届年会,会上     

HZ—Ⅱ型汉字库等三项科研成果在北京通过部级鉴定

由电子工业部48研究所研制的HZ—Ⅱ型汉字库和该所与湘潭韶山无线电厂联合研制的ZH—Ⅱ型国标码汉卡及该所与长沙市电脑公司、长沙无线电五厂联合研制的HZ—Ⅱ型汉字终端等三项科研成果于1986年6月21日在北京通过了部级鉴定。来自全国科研、生产、应用及高等院校等共42个单位,60名代表参加了这次鉴定会。全国著名的电子计算机专家、中国科学院学部委员吴几康教授担任这次鉴定委员会主任。     

电子工业部四十八研究所召开今年第一次科研成果鉴定会

电子工业部四十八研究所于今年3月16日至19日在长沙召开了1984年第一次科研成果鉴定会,分别对HZ—1型汉字智能终端系统,LK—2型离子束刻蚀机、LY—2型空心阴极重离子源和LC—2B型中能离子注入机等四项科研成果进行了部级、局级和所级鉴定,参加这次鉴定会的有来自全国科研、生产和高等院校共88个单位的171名代表。     

基于纹理覆盖的静止图像数据恢复

块编码图像传统中因噪声干扰会引起缺损,对此本文提出一种修复缺损数据的方法。对含有数据缺损的局部域图像。以纹理覆盖方式在缺损区生成新数据,较好地解决了边界连续和纹理一致的问题,模拟实验显示出该方法的有效性。     

美国麻省理工学院主任研究员J.Melngalis来长沙电子工业部第四十八研究所参观、讲学

应中国科学院声学研究所的邀请,美国麻省理工学院J.Melngalis博士于1986年4月来华访问、讲学,并于4月29日至5月1日来长沙电子工业部第四十八所参观、讲学。 J.Melngalis博士1965年于卡内基理学院获博士学位,1965—1966年     

1985年微电路工程会议

由荷兰技术大学应用物理系筹办的1985年微电路工程会将于本年9月23至25日在荷兰鹿特丹举行,这是一次关于微曝光和有关技术的专业性国际会议。其目的是引起世界各国对微曝光技术的重视、交流对微结构制造的经验、讨论微曝光技术的最新进展和未来的发展趋势。     

我国第一台三室结构的分子束外延设备通过部级鉴定

由电子工业部长沙半导体工艺设备研究所研制的FW-1型分子束外延设备于1985年12月14日至16日在长沙通过了部级鉴定。 分子束外延是在七十年代初期才发展起来的先进半导体技术,与常规的气相、液相外延技术相比,该技术具有真空度高,外延生长是在非热平衡条件下,生长温度相对的低,速率慢,边生长边掺杂,生长过程可进行原位监测及精密控制等一系列的优点,可     

会议简讯

由美国真空学会、美国电机及电子学工程师联合会电子器件学组和电化学学会联合主办的1983年国际电子束、离子束和光子束讨论会于5月31日至6月3日在美国加利福尼亚州洛杉矶举行。在本届全体会议上,宣读了分子级制造技术和分子电子器件、激光直接书写工艺和用聚焦离子束实现毫微米结构的无掩模蚀刻等三篇报告。在随后举行的分组会议上,共     

科研成果介绍

该系统是采用微机技术设计的一台用于检测离子注入、扩散掺杂工艺均匀性和重复性的自动化测量及数据处理系统(照片内左侧部分)。可与半自动探针台及手动探针台联用,用范德堡法及正方阵列,直线阵列四探针法进行自动测量及数据处理。具有速度快、功能全等特点。最近已通过技术鉴定,确认为国内较先进的自动测量及数据处理系统,具有一定的使用价值。本系统可向用户提供,欲购者请与湖南长沙96号信箱朱文章联系,电话:35811,电报挂号:1501。