边界扫描测试——复杂MCM的主流测试技术

ＩＥＥＥ－１１４９．１测试标准已被认为是解决复杂ＭＣＭ和ＰＣＢ测试问题的主流测试技术。本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同ＭＣＭ的边界扫描测试策略。     

边界扫描测试-复杂MCM的主流测试技术

IEEE-1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂MCM和PCB测试问题的主流测试技术.本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同MCM的边界扫描测试策略.     

对《脉冲与数字电路》课程设置有关问题的几点看法

我院属新建院校,《脉冲与数字电路》教研室所属教师来自不同院校,用过不同版本的教材和不同时数的大纲,去年年底,教研室就本门课设置的有关问题又作了教学调查,走访了为数较多的有关院校。在此基础上,我们结合以往教学实践和八○级学生的开课需要,对《脉冲与数字电路》课程实施问题进行了讨论,形成了一些粗浅的看法。为了便于和兄弟院校展开讨论,从而更好地向兄弟院校学习。我们择要对某些问题提出若干看法,由于我们教     

增强扩展能力的BSM设计

主控器设计是边界扫描测试系统设计的重点.这里介绍了一种基于指令模块的主控器体系结构,它的指令集的选择依照边界扫描规范并从中提取出最基本的控制方式,具有指令扩展功能.采用这样的设计可以使得整个测试控制过程获得更好的兼容性、扩展性与灵活性,并且解决了测试中遇到的一些实际问题.文中详细说明了主控器设计的具体结构,并对使用这种主控器解决在实际测试中遇到的具体问题作了说明.     

伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用

混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这一问题进行研究,详细讨论了利用伪随机技术进行混合信号电路测试的方法。     

边界扫描可测性设计及其VHDL描述

用传统方法测试高密集度ＳＭＴ板是难以想象的，边界扫描可以解决这一问题，在这基础上讨论了边界扫描可测性设计技术及其硬件描述语言ＶＨＤＬ。     

用循环队列求解高次本原多项式

本原多项式是构成线性反馈移位寄存器的基础,在给定级数ｎ情况下确定相应的多个本原连接多项式是工程应用中常遇到的问题,针对级数ｎ较大情况下难以求解其本原多项式这一问题,先给出了求解本原多项式的一般算法,然后针对该算法在求解高次本原多项式时可能遇到的问题进行了讨论,并提出了一种用循环队列改进抽样算法的方法,最后用实例验证了抽样算法的正确性。     

边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现

从国内厂家一个实际的内核电路出发,对其进行BIST插入及边界扫描测试的研究;在VHDL描述的基础上,用FPGA实现设计思想,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行,其过程验证了将边界扫描和BIST技术应用于MCM或PCB板功能测试的可行性.     

关于SMT测试策略的思考与建议

简述了国内外ＳＭＴ测试的现状与发展动向，在建立成功的ＳＭＴ测试策略方面提出了思考与建议。