氢化物—原子荧光法测定Ⅲ—Ⅴ族三元化合物半导体的组分

一、引言 氢化物-原子荧光法测定Ⅲ族和Ⅴ族元素如As、Sb、Bi等的检测下限较低,可达10~(-9)～10~(-10)克。因此将这种方法推广到Ⅲ—Ⅴ族多元化合物半导体的组分测定中去,有望得出满意结果。已经证明,Ⅲ—Ⅴ族多元化合物的组分及其分布对器件的光学,电学和结构等特性有决定性的影响。目     

硅酸盐水泥主成份分析方法的改进与研究

二氧化硅（ＳｉＯ２）含量的测定多用重量法,由于重量法的测定忽略了滤液中的微量ＳｉＯ２,造成结果偏低,本研究用硅钼蓝分光光度法补测滤液中的微量ＳｉＯ２含量,加和到重量法分析结果中去,以提高分析方法的准确度,氧化钙（ＣａＯ）和氧化镁（ＭｇＯ）含量的测定采用常常－络合联合掩蔽法消除铁（Ｆｅ＾３＋）、铝（Ａｌ＾３＋）的干扰,使络合滴定法的应用加广泛。     

BEHAVIOR OF FLUORINE IN BLAST-FURNACE SMELTING Ⅲ. MOVEMENT OF FLUORINE IN Al M~3 EXPERIMENTAL BLASTFURNACE SMELTING PAO-TOU IRON ORE

在本文中,我们报告了1M~3实验高炉冶炼包头铁矿时所取得的煤气、炉尘和炉料样品的分析结果。实验结果指出,氟在炉顶煤气中绝大部分系以氟化氢的形态存在。从热力学计算与实验结果的比较,得知煤气中的氟化氢与炉料中石灰或石灰石之间的化学反应接近平衡。由于石灰或石灰石对氟化氢的吸收作用,在正常高炉操作条件下,炉顶煤气的含氟量仅约3—13毫克/立方米。因此,可以预料由于矿石含氟而引起的一系列高炉冶炼上的问题,均可以较顺利地获得解决。另外,我们对炉内各平面边缘煤气中含氟量变化的规律,以及氟进入炉尘的机理均作了讨论。     

氢化物—原子荧光法测定锡

氢化物原子吸收法测定锡的工作已有报道,但 Fe~( 3)和 Se~( 4)等元素的干扰十分严重。本文在前文的基础上,提出用抗坏血酸为掩蔽剂,消除了它们的干扰,进一步扩大了氢化物——原子荧光法测定锡的应用范围。此外,我们还选用了硼酸为缓冲剂,     

扎布耶盐湖冷冻后卤水常温蒸发(20℃)析盐规律

文章以西藏扎布耶盐湖低温冷冻后卤水为研究对象 ,依据 2 5℃Na+、K+Cl- 、SO2 -4 、CO2 -3 五元介稳相图 ,研究了不同冷冻温度后的卤水在 2 0℃常温蒸发过程中盐类的析出规律 ,同时获得了卤水组成、体积及蒸发水量等的变化规律 ,为盐田规划设计、指导现场生产操作提供了依据     

“杂项”光度法测定工业盐中总氯（Cl^—）量

为便于工业盐分级工作，参照国家标准GB-5462“工业盐”的规定方法，寻找一种快速，简便的NaCl含量测定方法-以硝酸银为沉淀剂，以阿拉伯胶做保护剂的分光光度法。     

硅酸盐水泥主成份分析方法的改进与研究

二氧化硅(SiO2)含量的测定多用重量法,由于重量法的测定忽略了滤液中的微量SiO2,造成结果偏低.本研究用硅钼蓝分光光度法补测滤液中的微量SiO2含量,加和到重量法分析结果中去,以提高分析方法的准确度.氧化钙(CaO)和氧化镁(MgO)含量的测定采用沉淀--络合联合掩蔽法消除铁(Fe3+)、铝(Al3+)的干扰,使络合滴定法的应用更加广泛.     

"杂项"光度法测定工业盐中总氯(Cl-)量

为便于工业盐分级工作,参照国家标准GB-5462"工业盐"的规定方法,寻找一种快速、简便的NaCl含量测定方法--以硝酸银为沉淀剂,以阿拉伯胶做保护剂的分光光度法.     

超导薄膜中钇钡铜原子比的快速测定

应用反应离子束溅射镀膜技术制备的以ZrO_2为衬底的Y—Ba—Cu—O,超导薄膜,面积小,厚度薄,其总重量为数百微克。膜中Y、Ba、Cu的原子比对膜的超导性能有着极其重要的影响,因此必须测定薄膜中三元素之原子比。x—RF法对该工作已有报导,本文应用离子选择电极与分光光度法快速测定其原子比,结果与x—RF法一致.