介质恒压堵塞型油液污染度自动检测仪的设计

设计一种适合于各种性质流体的颗粒污染度检测的介质恒压堵塞型油污检测仪。阐述介质恒压堵塞型油液污染检测的原理,提出介质恒压堵塞型油污检测仪的总体设计方案;介绍污染监测仪的工作原理,对油液污染检测仪的主要机械结构进行设计,包括取样及恒压实现装置、换缸测试装置及反冲洗装置,其中对测试缸进行了创新设计,通过自动切换大小缸,使测试范围变宽、测试结果更准确;基于滤膜过滤基本方程建立恒压下滤膜的流量衰减模型,利用该模型可以定量检测油液的污染度。     

小于0.2 μm工艺的最新供货主要是单元基ASIC——由第三方知识产权厂商授权使用的核(cores)扩大了产权库

一些技术领先的ASIC(专用集成电路)设计公司,打算在今年把工艺带到控制尺寸(drawn features)小于0.2μm领域,继续推动过去两代已明显发展的系统芯片(system-on-chip)功能化过程。门阵列主要活跃在可编程逻辑的更换及较老的生产线上,表现着0.35μm以上较老的工艺技术。     

基于机器视觉的实体模型逆向重建系统

为了解决点激光扫描重建过程中点云稀疏、颜色纹理特征不明显的问题提出了一种基于相机图像信息与激光点云融合的三维重建方法.该方法结合线激光三角测距、相机坐标变换关系获取物体深度信息和点云数据,然后利用随机抽样一致(RANSAC)原理进行图像配准,实现对单目标实体的逆向建模.实验结果表明,该系统具有较高的可靠性和良好的精度,...     

基于固体颗粒尺寸分布的微孔滤膜堵塞机理分析

滤膜堵塞法是一种半定量的油液污染度检测方法,研究固体颗粒尺寸分布与滤膜堵塞机理的关系有助于该检测方法的定量化。利用AC细粉尘及煤粉配制了8种不同尺寸分布的悬浮溶液,选择了10 μm、15 μm两种不同尺寸的微孔滤膜,对其堵塞机理与溶液中固体颗粒尺寸分布的关系进行试验研究。基于膜孔尺寸将颗粒划分为可通过颗粒、敏感颗粒、架桥颗粒及易挡孔颗粒,将溶液恒压下通过微孔滤膜的流量衰减曲线与经典堵塞模型的堵塞指数相结合,分析不同类型颗粒在膜孔堵塞中的作用以及不同颗粒尺寸分布对应的滤膜堵塞机理。分析结果表明,微孔滤膜堵塞机理与溶液尺寸分布规律相对应,与膜孔尺寸的选择无关;溶液中的敏感颗粒越多,对滤膜的初始堵塞会越严重,越易形成滤饼;对于可通过小颗粒较多、敏感颗粒和架桥颗粒适量、易挡孔颗粒较少这种液压系统中常见的颗粒尺寸分布规律,微孔滤膜的堵塞以标准堵塞-滤饼过滤为主要机理。首次从颗粒尺寸分布的角度分析微米级滤膜堵塞机理,分析结果有助于建立滤膜通量与固体污染颗粒尺寸分布之间的关系,从而提高滤膜堵塞法的油液污染度检测精度。     

基于FLOW-3D的10μm微孔滤膜堵塞机理数值模拟

目前对微孔滤膜堵塞机理的研究主要是基于对滤膜堵塞试验数据分析所得的堵塞指数,而从虚拟仿真角度使滤膜堵塞过程可视化则有利于人们对滤膜堵塞机理的深刻认识。以10μm微孔滤膜为分析对象,基于FLOW-3D对膜孔尺寸附近的颗粒相对于微孔滤膜的摆放位置及倾斜角度与膜孔堵塞的关系,以及颗粒与膜孔间的架桥截留等进行了仿真分析。研究结果表明,短径大于膜孔尺寸的颗粒一定会被膜孔截留,短径小于膜孔尺寸的颗粒通常情况下均会通过膜孔,除非该颗粒恰好位于膜孔上方、短径与膜孔尺寸相近且长径与膜孔平行。堵孔后的颗粒表面会承受较大的液体压力。小颗粒与大颗粒的组合会形成稳定的架桥,架桥是长短径均小于膜孔尺寸颗粒的主要沉积形式。呈一定尺寸分布的颗粒在通过滤膜微孔时,大颗粒拦截首先发生,然后才是小颗粒之间的架桥,这两个机理联合作用导致膜孔堵塞。实际污染样液对滤膜微孔的堵塞结果验证了仿真分析的正确性。仿真结果可为基于滤膜堵塞法的油液污染颗粒定量检测模型研究提供参考。     

芯片规模封装技术发展前景看好——产品小型化趋势需要此种体积小、密度高的半导体封装技术

芯片规模封装技术(chip-scale packaging)作为一种制造更小型电子产品的方法,开始获得应有的地位与声誉。该方法用到的工艺包括内引线键合及芯片级组装等一系列工艺,可对各种器件类型进行封装。