基于WinForm的芯片测试管理系统设计

芯片测试管理系统作为一种芯片测试过程信息化解决方案,可有效提升芯片测试程序的核心竞争能力。本研究以芯片测试为研究对象,通过对该芯片测试对某机构的深入调研,主要发现了芯片测试流程中存在数据管理不规范、信息化较低等问题,因此,本研究首先进行开发芯片测试管理功能需求分析,采用结构化软件设计方法;以WinForm和SQLsreve数据库为系统软件开发平台,设计了一套有效且可靠的芯片测试管理系统。该芯片测试管理系统的设计包括软件整体架构、各个工序功能模块、数据库结构和可视化界面等,满足了在芯片测试管理系统功12项功（系统管理、产品出入库、品检功能、测试功能、镭射功能、打点功能、烘烤功能、设备管理、异常处理、订单工艺、质量管理、可视化管理模块）能需求。最后,通过设计功能分析芯片设计流程、数据库、设备管理、可视化界面、工艺管理设计效果,展示了该芯片测试管理系统的性能、可靠性、依赖性等,提升了芯片测试的效率,为芯片制造行业提供支持。