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薄膜的截面TEM样品制备 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄,对其微结构的研究十分困难,许多表征方法难以采用。透射电子显微分析(TEM)是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易,但由于薄膜依附于基材生长,且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征,因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究,可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂,难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法,对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。 相似文献
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在上一期的文章中,我们为大家介绍了有关CPU和显示卡的维护与优化,在这一期中,我们将继续为您讲解如何维护与优化您的计算机系统,包括硬盘、主板与内存的优化,让您拥有一个坚强的系统。 相似文献
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2006年5月在上海金茂大厦,应邀参加了由欧盟与意大利政府主办、意大利伦巴第农业联合会承办的欧洲特色美食与美酒品鉴活动。期间看到了众多欧洲特色食品,特别是带有欧盟认证“品质保证”标志的意大利伦巴第大区的美食与美酒。“品质保证”系列标志均为由蓝、黄两色组成的“太阳 相似文献
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我承认对于北京而言,举办一届奥运会是天大的事;但我更承认,中华民族的伟大复兴,是比天还要大的事! 2008年,对于中国来说,再没有比奥运再大的事了,全中国,不,全世界都看着中国,看着北京.大家都在说,好啊!奥运就要来了!现在的北京,也到处都在打奥运牌. 相似文献
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管材超声波分层检测作为控制产品质量的关键步骤,必须引起相关从业人员的重视,特别是要重点分析分层缺陷检测中盲区的构成原因和分布特征。只有这样,才能切实保证检测结果的准确性,更好地控制管材质量。通过对超声波分层缺陷检测的重要性进行阐释,分析了其中盲区的构成和分布等问题。 相似文献