硫化锌薄膜的结构分析

用热蒸发法和磁控离子射频溅射法制备了ＺｎＳ薄膜，利用Ｘ射线衍射技术对据 薄膜的结构相特性进行了研究，为研制高效的光电材料提供依据。     

溅射法制备硫化锌薄膜的XPS剖析

用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）技术，测量了射频磁控溅射法（ＲＦＭＳ）制备的硫化锌薄膜（ＺｎＳ：Ｅｒ＾３＋）的表面及内部构态，认为氧吸附形成的表面构态是产生薄膜界面态和界面陷阱能级的主要原因，对研究器件的激发过程有参考意义     

硫化锌薄膜的微结构剖析

用Ｘ射线衍射和Ｘ射线光电子能谱技术,对分舟热蒸发法研制的掺铒（Ｅｒ）硫化锌直流电致发光薄膜及硫化锌粉料进行剖析,获得薄膜表面及粉料的构态信息,讨论了影响微晶薄膜质量的主要因素。     

硫化锌薄膜的制备和结构分析

用常规分舟热蒸发法在玻璃衬底上制备硫化锌薄膜，用X射线衍射和透射电子显微镜研究该薄膜的晶体结构，发现硫化锌薄膜与流化锌粉末在晶体结构上存在差异，实验证实硫化锌晶体是具有高于性的共价键晶体。     

掺铒硫化锌交流电致发光薄膜的表面结构

对研制的掺铒硫化锌交流电致发光薄膜,进行了表面的 Ｘ 射线衍射（ Ｘ Ｒ Ｄ） 、 Ｘ 射线光电子能谱（ Ｘ Ｐ Ｓ） 及发光亮度测量。研究认为薄膜多晶的沉积有择优取向的趋势,表层碳、氧主要来源于吸附与玷污,绝缘层选择高介电常数、低电阻率的材料,可进一步提高器件质量     

硫化锌的光电子发射结构

对硫化锌粉料、硫化锌半导体微晶薄膜进行了Ｘ射线光电子发射谱剖析。获得粉料、薄膜表层及表层下的电子态信息，揭示了硫化锌粉料、薄膜微结构与电致发光性能的关系。     

热蒸发制备的硫化锌薄膜的结构分析

用双舟热蒸发制备了掺稀土硫化锌薄膜，用Ｘ射线衍射技术对硫化锌粉末和所制薄膜的晶体相结合进行研究，发现硫化锌薄膜的晶体结构与硫化锌粉末的晶体结构不同。薄膜晶体的生长受诸多因素影响，有择优取向生长趋势，是二维层状结构沿ｃ轴方向的密堆积。     

热蒸发制备的硫化锌薄膜的结构分析

用双舟热蒸发制备了掺稀土硫化锌薄膜，用ｘ射线衍射技术对硫化锌粉末和所制薄膜的晶体相结构进行研究，发现硫化锌薄膜的晶体结构与硫化锌粉末的晶体结构不同。薄膜晶体的生长受诸多因素影响，有择优取向生长趋势，是二维层状结构沿ｃ轴方向的密堆积。这些研究为高新材料的研制提供了参考。     

用XPS法研究硫化锌薄膜

运用ＸＰＳ法研究ＺｎＳ：Ｃｕ，Ｃｌ，Ｅｒ薄膜器件的界面态及所掺激活剂的纵向分布，认为氧吸附形成的ＺｎＳ薄膜的表面构态是产生薄膜界面态和界面陷阱能级的主要原因，对研究薄膜器件的激发过程有参考意义。     

硫化锌交流电致发光薄膜结构与特性研究

用电子束研制不同介质膜作绝缘层的掺铒硫化锌交流电致发光薄膜器件,用Ｘ射线衍射技术测量薄膜表面结构,发现薄膜多晶的沉积有择优取向的趋势。观察不同绝缘层交流电致发光器件的初始稳定过程,讨论绝缘层质量对交流电致发光器件的影响。