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潘慧峰  杜干 《微计算机信息》2006,22(17):297-298
本文研究了在每个对象只有一幅图像可用的情况下进行人脸识别。由于姿态变化所造成的自身遮掩和旋转的非线性,人脸识别的准确率将大大降低,广泛采用的主分量分析方法性能也将随之下降。通过分析用主分量分析生成的正面特征空间中的权值变化,我们发现给这些权值矢量加上系数,系统性能将大大提高。从而,我们提出了多姿态主分量分析方法。在UMIST人脸库上的实验结果表明我们的方法优于著名的特征脸方法,它大大的提高了识别率。  相似文献   
2.
潘慧峰 《电子测试》2017,(22):26-27
随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,要想保证电路的可靠性,就必须重视集成电路的测试功能,在传统的测试过程中,对集成电路的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的.这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试.为此,本文分析了基于FPGA集成电路测试系统的优越性,并选取某集成电路的老化测试系统设计为例进行重点探讨.  相似文献   
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