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介绍基于LabVIEW的高速数据采集原理以及VisualC++调用其生成DLL的设计方法,实现了LabVIEW、数据采集卡和VisualC++的无缝链接。  相似文献   
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论述了一种测试大型硅片电阻率均匀性的新方法——电阻抗成像技术(EIT)。给出了四探针的基本原理,指出EIT的基本思想来源于四探针技术。对EIT的基本原理和重建算法在理论上进行了描述.提出可将其应用于微区薄层电阻测试,并对EIT在大型硅片微区薄层电阻率均匀性测试技术上的系统应用做了进一步探索。  相似文献   
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