航天部691厂CMOS中小规模集成电路的可靠性试验

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某低空导弹电子控制舱的可靠性预测研究

文中介绍了IC、分立器件、电阻、电阻网络及电容器的工作失效率模型。给出了KJ系列及几种运算放大器长期可靠性试验结果,经数据处理得出了重要的可靠性参数失效率λ_((t))、平均寿命等。     

IC失效率的预测研究

前几篇论文中,曾对我厂多年来生产的IC进行了长达七千多小时的可靠性试验。经数据处理得出了重要的可靠性参数失效率λ、平均寿命等。可以看出我厂生产的IC可靠性已达到了较高水平。这里,再对若干电路进行了失效率的预测研究,得出的失效率λ值与试验数据处理得出的失效率λ值相比较,均在同一数量级。证明此方法可省人力、物力和财力,既能提供可靠信息,又可为厂增加经济效益。