排序方式: 共有81条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1.
2.
本文提出一个基于性能的LUT结构的FPGA的再设计算法,该算法采用特征函数以及对原布尔网络进行相应的约束实现电路的再设计。因为不改变网络的拓扑结构,从而避免了在再设计过程中重新考虑电路的时延和布局布线结果。 相似文献
3.
提出一种基于FPGA布通率的装箱算法.选择连接因子最小的节点作为种子节点;采用基于布通率的启发式函数来选择最合适的逻辑单元(LE)装箱到可配置逻辑单元(CLB)内部.可以同时减少装箱后CLB之间的线网数和CLB引脚的外部使用率,从而减少布线所需的通道数.该算法和已有算法相比较,线网数和布线通道数都减少约30%. 算法的时间复杂度仍然是线性的. 相似文献
4.
现代FPGA芯片可编程单元的日益复杂化对装箱提出了更大挑战,为了使依赖硬件结构的装箱过程不断适应芯片结构变化的过程,提出一种基于CSP图匹配的装箱算法CSPack.用配置库来描述芯片可编程逻辑块的各种电路功能,根据配置库并利用CSP图匹配算法进行电路匹配,找出满足约束的子电路,并以指令的形式将子电路映射到可编程逻辑块内.该算法已经应用于复旦大学自主研发的FPGA芯片FDP2008软件流程的装箱模块中,且针对不同芯片系列只需修改描述芯片功能配置的文件就能实现装箱.实验结果表明,与T-VPack算法相比,CSPack算法在时序性能上提升了6.1%,同时可减少1.4%的芯片占用面积. 相似文献
5.
应用在FPGA芯片中的边界扫描电路侧重于电路板级测试,兼顾芯片功能测试,同时提供JTAG下载方式。FPGA芯片的规模越来越大,引脚数目越来越多,边界扫描单元也随之相应增加。在此情况下,边界扫描电路设计时为了避免移入错误数据,对时钟偏差提出了很高的要求。同时,由于扫描链包含大量的边界扫描单元,在板级测试时,大大降低了有效测试速率。针对这两个问题,提出了对边界扫描单元的改进方式,改进后的边界扫描电路不仅可实现测试、编程功能,而且大大提高了电路抗竞争能力,保证电路正常工作。改进后的电路使边界扫描寄存器链的长度可以改变,使有效测试速率提高了20倍左右。 相似文献
6.
7.
本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初始状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除了必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。 相似文献
8.
9.
10.
研究了新型的FDP FPGA电路结构及其设计实现.新颖的基于3输入查找表的可编程单元结构,与传统的基于4输入查找表相比,可以提高约11%的逻辑利用率;独特的层次化的分段可编程互联结构以及高效的开关盒设计,使得不同的互联资源可以快速直接相连,大大提高了可编程布线资源效率.FDP芯片包括1600个可编程逻辑单元、160个可用IO、内嵌16k双开块RAM,采用SMIC 0.18μm CMOS工艺全定制方法设计并流片,其裸芯片面积为6.104mm×6.620mm.最终芯片软硬件测试结果表明:芯片各种可编程资源可以高效地配合其软件正确实现用户电路功能. 相似文献