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采用激光腔内倍频方法实现快速非线性光学晶体损耗测量,与常规方法不同的是用于测量晶体吸收和散射共同作用带来的损耗,而且响应时间很短,约100ns,并具有很高的灵敏度(10^-4 ̄10^-5),可望用于晶体快速损伤研究,我们对KTP、LBO,BBO等块状晶体的损耗进行测试,测量精度高于5%,测量结果与文献资料比较相符合。 相似文献
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