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1.
Electronic BITE is poor at identifying hardware failure and in present design approaches tends to create the reviled ‘unconfirmed failure’. A different approach to BITE and unconfirmed failure could improve both operational performance and the cost of maintenance. 相似文献
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In the course of storage trials in South-East Nigeria, four species of yam became infested with Araecerus fasciculatus (Degeer) and Decadarchis minuscula (Walsingham). Infestation was first observed in early February on Dioscorea dumetorum (Kunth) Pax. but quickly spread to D. rotundata Poir. and thence to D. alata L. and D. cayenensis Lam. The order of species attacked was probably related to their rate of drying. Both insects occurred together and attacked mainly the cut and damaged areas of the stored tubers. 相似文献
10.
Ng B.K. David J.P.R. Plimmer S.A. Rees G.J. Tozer R.C. Hopkinson M. Hill G. 《Electron Devices, IEEE Transactions on》2001,48(10):2198-2204
The avalanche multiplication characteristics of Al0.8Ga 0.2As have been investigated in a series of p-i-n and n-i-p diodes with i-region widths, w, varying from 1 μm to 0.025 μm. The electron ionization coefficient, α, is found to be consistently higher than the hole ionization coefficient, β, over the entire range of electric fields investigated. By contrast with AlxGa 1-xAs (x⩽0.6) a significant difference between the electron and hole initiated multiplication characteristics of very thin Al0.8Ga0.2As diodes (w=0.025 μm) was observed. Dead space effects in the diodes with w⩽0.1 μm were found to reduce the multiplication at low bias below the values predicted from bulk ionization coefficients. Effective α and β that are independent of w have been deduced from measurements and are able to reproduce accurately the multiplication characteristics of diodes with w⩾0.1 μm and breakdown voltages of all diodes with good accuracy. By performing a simple correction for the dead space, the multiplication characteristics of even thinner diodes were also predicted with reasonable accuracy 相似文献