一种基于射线照相的X射线衰减系数获得方法

提出了一种通过射线照相法计算X射线在物质中衰减系数的方法,通过简单实验以及计算快速获取不同能量X射线在物质中的衰减系数。设计实验找出了底片黑度与工件厚度的关系曲线,推导出表达式,并得出表达式的可信区间。用射线照相法实测了管电压为140、130、120kV时钢质台阶试块的X射线衰减系数与理论值对比,其标准误差＜3%,证明了该方法的可靠性。射线照相法求物质衰减系数计算简单、操作便捷、误差小,有望推广应用于材料中X射线衰减系数的估算。     

金属薄板HIP连接界面的超声波检测

设计了两层薄板的热等静压(HIP)扩散连接试样,结合超声波在多层介质中的传播特性,分析检测过程中超声波在试样中的声压透射率及能量损失情况,采用以色列ISONIC2006型超声仪器对试样进行了检测实验,并进行了主要技术参数的选择。结果表明:常规超声回波法能够检测出金属薄板HIP连接试样的界面缺陷,且当探头频率为15MHz,声程为6mm,延迟为8.3μs时,该方法的检测精度为1.0mm。     

钨合金壳体的超声检测及缺陷分析

采用纵波直探头和自磨制经校准的斜楔横波探头，对钨合金壳体部件进行了检测，并对钨合金壳体的缺陷定位、典型缺陷及其对应的回波特征进行了研究。结果表明，采用超声检测能够检测出钨合金内的孔洞、裂纹及“鸟巢”等缺陷。单个孔洞反射回波高，前沿较尖锐；密集气孔回波参差不齐，根部互相连接；裂纹回波高而尖锐，底波有所下降；“鸟巢”缺陷的反射波根部有若干小波峰出现。     

钨钼合金的超声检测及其缺陷分析

对钨钼合金典型缺陷的超声检测波形特征进行分析,结合典型缺陷的解剖和SEM形貌与EDS成分分析,验证了超声检测的波形特征分析结果。结果表明,超声检测能实现钨钼合金中典型缺陷的定位和类别判定。