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研究了Ａｌ－Ｓｎ稀固体合金不同制备方法下的表面偏析．俄歇电子能谱（ＡＥＳ）的研究表明，不同方法制得的不同成分的Ａｌ－Ｓｎ二元稀固溶体均呈现强烈的溶质偏析（Ｓｎ），Ｓｎ／Ａｌ比可高达４０％左右；而真空涂膜样品的溶质偏析现象更为明显． 相似文献
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