排序方式: 共有18条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
以已知活度的土壤样为标准对水样中的放射性活度用高纯锗(HPGe)γ谱仪进行测量,由于两样品在组成成分特别是密度上的差别,会给测量结果带来一定误差。为了修正这一刻度误差,本文采用蒙特卡罗方法,通过分别模拟计算HPGe探测器对水样和土样中238U2、32Th2、26Ra4、0K等核素特征γ射线的探测效率,得到了以土样为标准测量水样核素活度引入的刻度误差。对238U为12%,其余三种核素均小于5%的误差,从而建立起了对这一刻度误差进行修正的方法。 相似文献
2.
热中子三轴谱仪(TTAS)是利用非弹性散射测量材料激发态信息的重要实验手段。论文基于Mc Stas中子装置模拟程序对中物院拟建的热中子三轴谱仪的各项参数进行了系统的模拟和优化。研究表明,双聚焦单色器采用15行×11列的阵列、总面积为260 mm(宽)×200 mm(高)时可最大限度地提高中子束流强度,单晶片采用34'的镶嵌度可提高反射中子强度,速度选择器螺旋角最佳值为10.7°。该项模拟研究为热中子三轴谱仪的设计和建设提供了良好的基础和优化的方案。 相似文献
3.
4.
5.
中子衍射法是迄今为止可直接测量材料或工程部件内部深处应力场分布的唯一非破坏性方法,在工程上具有重要的应用。论文用McStas软件模拟计算了应力谱仪样品台处的注量率,同时理论计算了谱仪的分辨率,并且分析了第二准直器对样品台处中子注量率和谱仪分辨率的影响,结果表明谱仪的第二准直器对中子注量率影响很大,样品处衍射角小于120°时,谱仪分辨率良好。 相似文献
6.
中子三轴谱仪分辨率的计算与分析 总被引:1,自引:0,他引:1
描述了中子三轴谱仪分辨率函数的计算方法,计算分析了中子波矢、准直器水平发散度、谱仪布局及能量和动量转移对分辨率函数的影响.谱仪分辨率随着入射波矢增大而降低,随着准直器水平发散度的减小而提高,谱仪最高能量分辨率能达到23μeV,计算值与实验测量和模拟计算结果符合得很好;谱仪布局只改变分辨率椭球在散射平面的方向,而不会影响... 相似文献
7.
8.
9.
介绍了中子小角散射实验数据处理程序PXY,该程序能较好地进行多维处理数据.作者做了范例数据的二维处理,并对结果进行分析.还做了AgBE粉末样品的在中子小角散射谱仪上的波长校正实验,并对实验数据使用PXY程序作了处理,分析了处理结果. 相似文献
10.
为了能具体了解准直器系统对中子应力谱仪的性能参数如:样品处中子注量率、谱仪分辨率等主要指标的影响,对安装于中子应力谱仪上的准直器系统进行模拟和计算.通过设定和优化各个准直器参数.分析它们对谱仪性能指标的影响.模拟过程中,我们主要采用了McStas软件来进行建模及优化计算工作,通过对第一、第二准直器等主要部件的发散度参数α1、α2和长度的组合变化来发现它们对谱仪整体的影响,并且计算它们引起的分辨率改变,最终我们得到在α1:α2=30'下样品处水平方向中子注量率可以达到2.3×106n·cm-2·s-1,垂直方向可达3.5×106n·cm-2·s-1,并且当第一、第二准直器发散角α1:α2=10'时谱仪可以得到它的最好分辨率Fw=0.2,它所对应的应变误差值是应力谱仪测量的最小误差. 相似文献